131 - 140 out of 184Page size: 10
  1. 2009

  2. Synchrotron microscopy and spectroscopy for analysis of crystal defects in silicon

    Seifert, W., Vyvenko, O. F., Arguirov, T., Erko, A., Kittler, M., Rudolf, C., Salome, M., Trushin, M. & Zizak, I., 2009, In: Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics. 6, 3, p. 765-771

    Research output: Contribution to journal › Article

  3. РАЗРАБОТКА СПОСОБА НЕКОВАЛЕНТНОЙ ФИКСАЦИИ ДНК НА ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛА КРЕМНИЯ

    Волков, И. Л., Базлов, Н. В., Бондаренко, А. С., Вывенко, О. Ф. & Касьяненко, Н. А., 2009, In: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 3, p. 45-51

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  4. СВЕТОИНДУЦИРОВАННАЯ НЕКОВАЛЕНТНАЯ ФИКСАЦИЯ ДНК И СИНТЕТИЧЕСКИХ ПОЛИИОНОВ НА ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ LIGHT-INDUCED NONCOVALENT FIXATION OF DNA AND SYNTHETIC POLYIONS ON THE SURFACE OF SILICON SINGLE CRYSTALS

    Волков, И. Л., Базлов, Н. В., Бондаренко, А. С., Вывенко, О. Ф. & Касьяненко, Н. А., 2009, In: ЖУРНАЛ СТРУКТУРНОЙ ХИМИИ. 5, p. 999-1006

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  5. Экспериментальное определение толщины „мертвого слоя“

    Убыйвовк, В. Е., Логинов, Д. К., Герловин, И. Я., Долгих, Ю. К., Ефимов, Ю. П., Елисеев, С. А., Петров, В. В., Вывенко, О. Ф., Ситникова, А. А. & Кириленко, Д. А., 2009, In: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. 51, 9, p. 1818-1823

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  6. 2008

  7. A pure 1.5 μm electroluminescence from metal-oxide-silicon tunneling diode using dislocation network

    Yu, X., Seifert, W., Vyvenko, O. F. & Kittler, M., 2008, In: Applied Physics Letters. 93, 4, p. 041108_1-3

    Research output: Contribution to journal › Article

  8. Detection of the border dead layer in thick quantum wells GaAs/AlGaAs

    Ubyivovk, E. V., Loginov, D. K., Gerlovin, I. Y., Dolgikh, Y. K., Efimov, Y. P., Eliseev, S. A., Petrov, V. V., Vyvenko, O. F., Sitnikova, A. A. & Kirilenko, D. A., 2008, XXII Russian Conference of the electron microscopy.

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Research

  9. Dislocations in silicon as a tool to be used in optics, electronics and biology

    Kittler, M., Reiche, M., Arguirov, T., Mchedlidze, T., Seifert, W., Vyvenko, O. F., Wilhelm, T. & Yu, X., 2008, In: Solid State Phenomena. 131-133, p. 289-292 4 p.

    Research output: Contribution to journal › Conference article › peer-review

  10. ТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУЧНО-ОБРАЗОВАТЕЛЬНЫЕ ЦЕНТРЫ ВУЗОВ КАК ОПОРНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОГО СЕГМЕНТА РОССИЙСКОЙ НАНОТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ СЕТИ Thematic scientific and educational centers of higher education as supporting elements of the educational segment of Russia nanotechnological network

    Вывенко, О. Ф., Чижов, Ю. В., Рождественский, И. В. & Горлинский, И. А., 2008, In: ИННОВАЦИИ. 6, p. 66-69

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  11. 2007

  12. Enhancement of IR emission from a dislocation network in Si due to an external bias voltage

    Yu, X., Vyvenko, O. F., Reiche, M. & Kittler, M., Sep 2007, In: Materials Science and Engineering C. 27, 5-8 SPEC. ISS., p. 1026-1029 4 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  13. Silicon nanostructures for IR light emitters

    Kittler, M., Arguirov, T., Seifert, W., Yu, X., Jia, G., Vyvenko, O. F., Mchedlidze, T., Reiche, M., Sha, J. & Yang, D., Sep 2007, In: Materials Science and Engineering C. 27, 5-8 SPEC. ISS., p. 1252-1259 8 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Previous 1...10 11 12 13 14 15 16 17 ...19 Next

ID: 218817