131 - 140 из 184Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2009

  2. Synchrotron microscopy and spectroscopy for analysis of crystal defects in silicon

    Seifert, W., Vyvenko, O. F., Arguirov, T., Erko, A., Kittler, M., Rudolf, C., Salome, M., Trushin, M. & Zizak, I., 2009, в: Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics. 6, 3, стр. 765-771

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  3. РАЗРАБОТКА СПОСОБА НЕКОВАЛЕНТНОЙ ФИКСАЦИИ ДНК НА ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛА КРЕМНИЯ

    Волков, И. Л., Базлов, Н. В., Бондаренко, А. С., Вывенко, О. Ф. & Касьяненко, Н. А., 2009, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 3, стр. 45-51

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. СВЕТОИНДУЦИРОВАННАЯ НЕКОВАЛЕНТНАЯ ФИКСАЦИЯ ДНК И СИНТЕТИЧЕСКИХ ПОЛИИОНОВ НА ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ LIGHT-INDUCED NONCOVALENT FIXATION OF DNA AND SYNTHETIC POLYIONS ON THE SURFACE OF SILICON SINGLE CRYSTALS

    Волков, И. Л., Базлов, Н. В., Бондаренко, А. С., Вывенко, О. Ф. & Касьяненко, Н. А., 2009, в: ЖУРНАЛ СТРУКТУРНОЙ ХИМИИ. 5, стр. 999-1006

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Экспериментальное определение толщины „мертвого слоя“

    Убыйвовк, В. Е., Логинов, Д. К., Герловин, И. Я., Долгих, Ю. К., Ефимов, Ю. П., Елисеев, С. А., Петров, В. В., Вывенко, О. Ф., Ситникова, А. А. & Кириленко, Д. А., 2009, в: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. 51, 9, стр. 1818-1823

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. 2008

  7. A pure 1.5 μm electroluminescence from metal-oxide-silicon tunneling diode using dislocation network

    Yu, X., Seifert, W., Vyvenko, O. F. & Kittler, M., 2008, в: Applied Physics Letters. 93, 4, стр. 041108_1-3

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  8. Detection of the border dead layer in thick quantum wells GaAs/AlGaAs

    Ubyivovk, E. V., Loginov, D. K., Gerlovin, I. Y., Dolgikh, Y. K., Efimov, Y. P., Eliseev, S. A., Petrov, V. V., Vyvenko, O. F., Sitnikova, A. A. & Kirilenko, D. A., 2008, XXII Russian Conference of the electron microscopy.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции

  9. Dislocations in silicon as a tool to be used in optics, electronics and biology

    Kittler, M., Reiche, M., Arguirov, T., Mchedlidze, T., Seifert, W., Vyvenko, O. F., Wilhelm, T. & Yu, X., 2008, в: Solid State Phenomena. 131-133, стр. 289-292 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья в журнале по материалам конференции › Рецензирование

  10. ТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУЧНО-ОБРАЗОВАТЕЛЬНЫЕ ЦЕНТРЫ ВУЗОВ КАК ОПОРНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОГО СЕГМЕНТА РОССИЙСКОЙ НАНОТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ СЕТИ Thematic scientific and educational centers of higher education as supporting elements of the educational segment of Russia nanotechnological network

    Вывенко, О. Ф., Чижов, Ю. В., Рождественский, И. В. & Горлинский, И. А., 2008, в: ИННОВАЦИИ. 6, стр. 66-69

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. 2007

  12. Enhancement of IR emission from a dislocation network in Si due to an external bias voltage

    Yu, X., Vyvenko, O. F., Reiche, M. & Kittler, M., сен 2007, в: Materials Science and Engineering C. 27, 5-8 SPEC. ISS., стр. 1026-1029 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. Silicon nanostructures for IR light emitters

    Kittler, M., Arguirov, T., Seifert, W., Yu, X., Jia, G., Vyvenko, O. F., Mchedlidze, T., Reiche, M., Sha, J. & Yang, D., сен 2007, в: Materials Science and Engineering C. 27, 5-8 SPEC. ISS., стр. 1252-1259 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...10 11 12 13 14 15 16 17 ...19 Далее

ID: 218817