81 - 90 из 192Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2016

  2. Recombination-Related Properties of a-Screw Dislocations in GaN: A Combined CL, EBIC, TEM Study

    Medvedev, O. S., Vyvenko, O. F., Bondarenko, A. S., Mikhailovskii, V. Y., Ubyivovk, E. V., Peretzki, P. & Seibt, M., 2016, в: AIP Conference Proceedings. 1748, 1, 7 стр., 020011.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья в журнале по материалам конференции › Рецензирование

  3. Secondary Electron Generation in the Helium Ion Microscope: Basics and Imaging

    Petrov, Y. V. & Vyvenko, O. F., 2016, Helium Ion Microscopy. Hlawacek, G. & Gölzhäuser, A. (ред.). Springer Nature, стр. 119-146 ( NanoScience and Technology).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › Рецензирование

  4. Structural and Electrical Properties of AlN Layers Grown on Silicon by Reactive RF Magnetron Sputtering

    Bazlov, N., Pilipenko, N., Vyvenko, O., Kotina, I., Petrov, Y., Mikhailovskii, V., Ubyivovk, E. & Zharinov, V., 2016, Structural and Electrical Properties of AlN Layers Grown on Silicon by Reactive RF Magnetron Sputtering. American Institute of Physics, 9 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › Рецензирование

  5. 2015

  6. SHOCK-INDUCED STRUCTURES IN COPPER

    Meshcheryakov, Y. I., Zhigacheva, N. I., Divakov, A. K., Konovalov, G. V., Barakhtin, B. K., Rasorenov, S. V., Vyvenko, O. V., Bondarenko, A. S. & Khomskaya, I. V., 3 ноя 2015, в: Materials Physics and Mechanics. 24, 4, стр. 347-358 12 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Oxygen-related defects: Minority carrier lifetime killers in n-type Czochralski silicon wafers for solar cell application

    Kolevatov, I., Osinniy, V., Herms, M., Loshachenko, A., Shlyakhov, I., Kveder, V. & Vyvenko, O., 1 авг 2015, в: Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics. 12, 8, стр. 1108-1110 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Effect of helium ion beam treatment on the etching rate of silicon nitride

    Petrov, Y. V., Sharov, T. V., Baraban, A. P. & Vyvenko, O. F., 2015, в: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS. 349, стр. 90-95

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  9. Energy filtration of secondary and backscattered electrons by the method of the retarding potential in scanning electron and ion microscopy

    Mikhailovskii, V. Y., Petrov, Y. V. & Vyvenko, O. F., 2015, в: Journal of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 9, 1, стр. 196-202

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  10. On the luminescence of freshly introduced a-screw dislocations in low-resistance GaN

    Medvedev, O. S., Vyvenko, O. F. & Bondarenko, A. S., 2015, в: Semiconductors. 49, 9, стр. 1181-1186

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  11. Scanning reflection ion microscopy in a helium ion microscope

    Petrov, Y. V. & Vyvenko, O. F., 2015, в: Beilstein Journal of Nanotechnology. 6, стр. 1125-1137

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  12. Люминесценция свежевведенных a-винтовых дислокаций в низкоомном GaN

    Медведев, О. С., Вывенко, О. Ф. & Бондаренко, А. С., 2015, в: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 49, 9, стр. 1217-1222

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...5 6 7 8 9 10 11 12 ...20 Далее

ID: 218817