101 - 110 из 115Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2001

  2. The oxide layer charging in SIMOX structures

    Askinazi, A. Y., Baraban, A. P., Dmitriev, V. A. & Miloglyadova, L. V., 1 мая 2001, в: Technical Physics Letters. 27, 5, стр. 422-423 2 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Electric field affects the charge state in ion-implanted Si-SiO2 structures

    Baraban, A. P., Miloglyadova, L. V. & Ter-Nersesyants, V. I., 1 фев 2001, в: Technical Physics Letters. 27, 2, стр. 129-131 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. 2000

  5. Electroluminescence from Thin Silicon Dioxide Films

    Baraban, A. P., Semykina, E. A. & Vaniouchov, M. B., 1 дек 2000, в: Physics of Low-Dimensional Structures. 2000, 3-4, стр. 27-36 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Understanding electroluminescence from thin silicon dioxide films

    Baraban, A. P., Semykina, E. A. & Vaniouchov, M. B., 1 июн 2000, в: Semiconductor Science and Technology. 15, 6, стр. 546-550 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Effect of ultraviolet irradiation on the charge state of ion-implanted silicon-silicon dioxide structures

    Baraban, A. P. & Malyavka, L. V., 1 янв 2000, в: Technical Physics Letters. 26, 2, стр. 159-160 2 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Electroluminescence of ion-implanted Si-SiO2 structures

    Baraban, A. P., Konorov, P. P., Malyavka, L. V. & Troshikhin, A. G., 1 янв 2000, в: Technical Physics. 45, 8, стр. 1042-1044 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. 1998

  10. Numerical simulation of electron transport in MIS-structures

    Baraban, A. P., Sazonov, S. G. & Zuluev, Z. N., 1 дек 1998, в: Physics of Low-Dimensional Structures. 1998, 7-8, стр. 35-42 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. 1997

  12. Synthesis and investigation of heterooxides by ML-ALE method

    Drozd, V. E., Baraban, A. P., Nikiforova, I. O. & Aleskovski, V. B., 1 янв 1997, в: Applied Surface Science. 112, стр. 264-268 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. 1996

  14. Electroluminescence analysis of the structural damage created in SiO2/Si systems by Ar ion implantation

    Bota, S., Garrido, B., Morante, J. R., Baraban, A. & Konorov, P. P., 1 янв 1996, в: Solid-State Electronics. 39, 3, стр. 355-359 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  15. 1994

  16. Electrical properties of Si-Al2O3 structures grown by ML-ALE

    Drozd, V. E., Baraban, A. P. & Nikiforova, I. O., 2 дек 1994, в: Applied Surface Science. 82-83, C, стр. 583-586 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...7 8 9 10 11 12 Далее

ID: 147658