Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
Electroluminescence from SiO2 has been studied both experimentally and theoretically. Numerical simulations have been carried out to investigate electroluminescence and impact ionization processes. A firm connection between electroluminescence and impact ionization has been shown.
| Язык оригинала | английский |
|---|---|
| Страницы (с-по) | 546-550 |
| Число страниц | 5 |
| Журнал | Semiconductor Science and Technology |
| Том | 15 |
| Номер выпуска | 6 |
| DOI | |
| Состояние | Опубликовано - 1 июн 2000 |
ID: 42161843