111 - 115 из 115Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 1993

  2. Electroluminescence evaluation of the SiO2-Si structures using an electrolyte-SiO2-Si cell

    Baraban, A. P., Konorov, P. P., Bota, S. A. & Morante, J. R., 1 дек 1993, Materials Research Society Symposium Proceedings. Tischler, M. A., Collins, R. T., Thewalt, M. L. W. & Abstreiter, G. (ред.). Materials Research Society, стр. 253-258 6 стр. (Materials Research Society Symposium Proceedings; том 298).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  3. Characterization of the degradation processes in Si

    Bota, S. A., Moranta, J. R., Baraban, A. P., Bulavinov, V. V. & Konorov, P. P., 1 янв 1993, Materials Research Society Symposium Proceedings. Rodbell, K. P., Filter, W. F., Frost, H. J. & Ho, P. S. (ред.). Materials Research Society, стр. 49-54 6 стр. (Materials Research Society Symposium Proceedings; том 309).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  4. 1991

  5. Energy dissipation of heated electrons in silicon dioxide layers

    Baraban, A. P., Bulavinov, V. V. & Rybakov, M. O., 1 янв 1991, в: Soviet Physics Journal. 34, 1, стр. 27-30 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. 1979

  7. EFFECT OF FLUORIDE IONS ON THE PROPERTIES OF AN SI-SiO2 STRUCTURE.

    Tarantov, Y. A., Baraban, A. P. & Konorov, P. P., 1 янв 1979, в: Soviet Microelectronics (English Translation of Mikroelektronika). 8, 2, стр. 136-137 2 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. FEATURES OF THE RELAXATION OF THE NONEQUILIBRIUM CAPACITANCE OF Si-SiO2 STRUCTURES IN INTENSE ELECTRIC FIELDS.

    Baraban, A. P. & Tarantov, Y. A., 1 янв 1979, в: Soviet Microelectronics (English Translation of Mikroelektronika). 8, 4, стр. 285-286 2 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...8 9 10 11 12 Далее

ID: 147658