Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
We present the results of photoluminescence measurements of AlxGa1-xAs nanowires, together with the transmission electron microscopy structural analysis. AlxGa1-xAs nanowires were grown by molecular beam epitaxy under the nominal aluminum contents ? = 0.3-0.7. The obtained results demonstrate the presence of wurtzite structure in AlxGa1-xAs nanowires.
| Язык оригинала | английский |
|---|---|
| Страницы (с-по) | 2146-2148 |
| Число страниц | 3 |
| Журнал | Semiconductors |
| Том | 52 |
| Номер выпуска | 16 |
| DOI | |
| Состояние | Опубликовано - 17 дек 2018 |
ID: 36518619