1. 2012
  2. The influence of porous silica substrate on the properties of alumina films studied by X-ray reflection spectroscopy

    Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Romanov, A. A. & Filatova, E. O., 1 июн 2012, в: Technical Physics Letters. 38, 6, стр. 562-564 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...4 5 6 7 8 Далее

ID: 196361