Результаты

  1. Phase coexistence in Y - and La -doped Hf0.5Zr0.5O2 thin films and its effect on the electrical properties in functional capacitors

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  2. Formation of intermetallic phases and texture evolution in Ni0.95Mo0.05/ Ti multilayer

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Influence of silicon interlayers on transition layer formation in Ti/Ni multilayer structures of different thicknesses

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Просмотреть все (66) »

Деятельность

  1. Structural and electronic rearrangement in ovonic switching GexSe1- x(0.4<x<0.72)Films

    Деятельность: Выступление на научной конференциивыступление с устным докладом

  2. Probing the Composition and Extension of Interface by HAXPES. Inhibition of Oxygen Scavenging by TiN at the TiN/Dielectric Interface by Protective Layer

    Деятельность: Выступление на научной конференциивыступление с приглашенным докладом

  3. Re-distribution of Oxygen at the Metal/Oxide Interface

    Деятельность: Выступление на научной конференциивыступление с приглашенным докладом

Просмотреть все (4) »

ID: 196361