61 - 65 из 65Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2013

  2. Effect of thermal annealing and Al2O3-interlayer on intermixing in the TiN/SiO2/Si structure

    Konyushenko, M. A., Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Schaefers, F. & Filatova, E. O., 17 дек 2013, в: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 196, стр. 117-120

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Study of Al2O3 nanolayers synthesized onto porous SiO2 using X-ray reflection spectroscopy

    Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Schaefers, F. & Filatova, E. O., 2013, в: Thin Solid Films. 534, стр. 363-366

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  4. X-ray and photoelectron spectroscopic nondestructive methods for thin films and interfaces study. Application to SrTiO3 based heterostuctures

    Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V., Sokolov, A. A., Yegorova, Y. V., Konashuk, A. S., Vilkov, O. Y., Schaefers, F., Gorgoi, M. & Shulakov, A. S., 2013, в: Microelectronic Engineering. 109, стр. 13-16

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  5. X-ray spectroscopic study of SrTiOx films with different interlayers

    Filatova, E. O., Sokolov, A. A., Egorova, Y. V., Konashuk, A. S., Vilkov, O. Y., Gorgoi, M. & Pavlychev, A. A., 2013, в: Journal of Applied Physics. 113, 22, стр. 224301_1-8

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  6. 2012

  7. The influence of porous silica substrate on the properties of alumina films studied by X-ray reflection spectroscopy

    Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Romanov, A. A. & Filatova, E. O., 1 июн 2012, в: Technical Physics Letters. 38, 6, стр. 562-564 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...3 4 5 6 7 Далее

ID: 196361