141 - 150 out of 172Page size: 10
  1. 2013

  2. МОДЕЛЬНЫЙ ПОДХОД К РЕШЕНИЮ ОБРАТНОЙ ЗАДАЧИ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ И ЕГО ПРИМЕНЕНИЕ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ПЛЕНОК ОКСИДА ГАФНИЯ

    Волков, Ю. О., Кожевников, И. В., Рощин, Б. С., Филатова, Е. О. & Асадчиков, В. Е., 2013, In: КРИСТАЛЛОГРАФИЯ. 58, 1, p. 146–154

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  3. 2012

  4. The influence of porous silica substrate on the properties of alumina films studied by X-ray reflection spectroscopy

    Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Romanov, A. A. & Filatova, E. O., 1 Jun 2012, In: Technical Physics Letters. 38, 6, p. 562-564 3 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  5. Characterization of High-k Dielectrics Internal Structure by X-Ray Spectroscopy and Reflectometry: New Approaches to Interlayer Identification and Analysis (Chapter 7)

    Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V. & Sokolov, A. A., 2012, High –k Gate Dielectrics for CMOS Technology / Ed. by Gang He, Zhaoqi Sun. Wiley-Blackwell, p. 558, 225-271

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Chapter › Research

  6. Soft X-Ray Reflectometry, Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy, and HRTEM investigations of the internal structure of TiO2(Ti)/SiO2/Si stacks

    Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V., Sokolov, A. A., Ubyivovk, E. V., S. Yulin, U., Gorgoi, M. & Schaefers, F., 2012, In: Science and Technology of Advanced Materials. 13, 1, p. 015001_1-12

    Research output: Contribution to journal › Article

  7. Кафедра электроники твёрдого тела в Санкт-Петербургском униерситете: К 80-летию кафедры

    Адамчук, В. К., Артамонов, О. М., Барабан, А. П., Виноградов, А. С., Владимиров, Г. Г., Вывенко, О. Ф., Габис, И. Е., Комолов, А. С., Комолов, С. А., Коноров, П. П., Павлычев, А. А., Филатова, Е. О., Шикин, А. М., Шулаков, А. С. & Яфясов, А. М., 2012, Издательство Санкт-Петербургского университета. 277 p.

    Research output: Book/Report/Anthology › Anthology › peer-review

  8. 2011

  9. Hexagonal BN: Chemical and structural effects on K-shells excitation: X-ray polaroid effect

    Filatova, E. O., Taracheva, E. Y. & A.Pavlychev, A., 1 Apr 2011, Boron: Compounds, Production and Application. Nova Science Publishers, Inc., p. 93-146 54 p.

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Chapter › Research › peer-review

  10. X-Ray Optics and Inner-Shell Electronics of Hexagonal BN

    Filatova, E. O. & Pavlychev, A. A., 2011, Nova Science Publishers, Inc. 107 p.

    Research output: Book/Report/Anthology › Book

  11. X-ray photoelectron spectroscopy for nondestructive analysis of buried interfaces

    Filatova, E. O. & Sokolov, A. A., 2011, In: Journal of Structural Chemistry. 52, Supplement 1, p. 82-89

    Research output: Contribution to journal › Article

  12. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия высоких энергий как неразрушающий метод исследования скрытых межфазовых границ

    Филатова, Е. О. & Соколов, А. А., 2011, In: ЖУРНАЛ СТРУКТУРНОЙ ХИМИИ. 52, Приложение, p. S85 - S93

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  13. 2010

  14. Evolution of surface morphology at the early stage of Al2O3 film growth on a rough substrate

    Filatova, E. O., Peverini, L., Ziegler, E., Kozhevnikov, I. V., Jonnard, P. & Andre, J. M., 3 Aug 2010, In: Journal of Physics: Condensed Matter. 22, 34, p. 345003_1-8

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Previous 1...11 12 13 14 15 16 17 18 Next

ID: 173981