Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
Термодинамическая стабильность твердых растворов InxGa1-xN. / Кукушкин, Сергей Арсеньевич; Осипов, Андрей Викторович.
в: Письма в Журнал технической физики, Том 47, № 19, 2021, стр. 51-54.Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
}
TY - JOUR
T1 - Термодинамическая стабильность твердых растворов InxGa1-xN
AU - Кукушкин, Сергей Арсеньевич
AU - Осипов, Андрей Викторович
PY - 2021
Y1 - 2021
N2 - Выполнен теоретико-групповой анализ твердых растворов нитридов индия и галлия InxGa1-xN (0<x<1) и найдены все основные группы симметрии для данных растворов с составом x, представимым в виде рациональной дроби. Методом функционала плотности рассчитаны термодинамические потенциалы основных фаз. Показано, что при малых и больших x, т. е. при 0<x<0.2 и 0.8<x<1, имеется большое количество моноклинных фаз Pm и P21, которые являются стабильными по отношению к распаду на InN и GaN при комнатной температуре. В интервале 0.2<x<0.8 имеются лишь две стабильные орторомбические фазы Cmc21 с составами x=1/3 и 2/3. Рассчитаны все основные геометрические и термодинамические свойства различных фаз InxGa1-xN. Установлено, что стабильность эпитаксиальных пленок InxGa1-xN повышается при росте на InN и уменьшается при росте на GaN.
AB - Выполнен теоретико-групповой анализ твердых растворов нитридов индия и галлия InxGa1-xN (0<x<1) и найдены все основные группы симметрии для данных растворов с составом x, представимым в виде рациональной дроби. Методом функционала плотности рассчитаны термодинамические потенциалы основных фаз. Показано, что при малых и больших x, т. е. при 0<x<0.2 и 0.8<x<1, имеется большое количество моноклинных фаз Pm и P21, которые являются стабильными по отношению к распаду на InN и GaN при комнатной температуре. В интервале 0.2<x<0.8 имеются лишь две стабильные орторомбические фазы Cmc21 с составами x=1/3 и 2/3. Рассчитаны все основные геометрические и термодинамические свойства различных фаз InxGa1-xN. Установлено, что стабильность эпитаксиальных пленок InxGa1-xN повышается при росте на InN и уменьшается при росте на GaN.
KW - метод функционала плотности
KW - полупроводники
KW - твердые растворы
KW - гетероструктуры
UR - http://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/51516
UR - https://www.elibrary.ru/item.asp?id=46549190
M3 - статья
VL - 47
SP - 51
EP - 54
JO - ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ"
JF - ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ"
SN - 0320-0116
IS - 19
ER -
ID: 89125570