1 - 3 из 3Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2021

  2. Using high aspect ratio AFM probe for digital twin development of SiC FEA

    Никифоров, К. А., Егоров, Н. В., Соколов, И. А., Стребко, В. А., Михайловский, В. Ю., Данилов, Д. В., Голубков, В., Ильин, В. & Иванов, А., 2021, 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2021. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2 стр. 9600708

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  3. 2019

  4. Расчёт электростатического поля автоэмиттера с учётом наноструктуры поверхности

    Стребко, В. А. & Никифоров, К. А., 2019, в: Процессы управления и устойчивость. 6, 1, стр. 122-126

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. 2018

  6. Моделирование статических дифференциальных параметров автоэмиссионных микро-, нанотриодов

    Соколов, И. А., Стребко, В. А. & Никифоров, К. А., 2018, в: Процессы управления и устойчивость. 5, 1, стр. 208-214

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 18608778