1 - 3 out of 3Page size: 10
  1. 2021

  2. Using high aspect ratio AFM probe for digital twin development of SiC FEA

    Никифоров, К. А., Егоров, Н. В., Соколов, И. А., Стребко, В. А., Михайловский, В. Ю., Данилов, Д. В., Голубков, В., Ильин, В. & Иванов, А., 2021, 34th International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2021. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2 p. 9600708

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › peer-review

  3. 2019

  4. Расчёт электростатического поля автоэмиттера с учётом наноструктуры поверхности

    Стребко, В. А. & Никифоров, К. А., 2019, In: Процессы управления и устойчивость. 6, 1, p. 122-126

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  5. 2018

  6. Моделирование статических дифференциальных параметров автоэмиссионных микро-, нанотриодов

    Соколов, И. А., Стребко, В. А. & Никифоров, К. А., 2018, In: Процессы управления и устойчивость. 5, 1, p. 208-214

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

ID: 18608778