131 - 140 из 163Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2013

  2. X-ray spectroscopic study of SrTiOx films with different interlayers

    Filatova, E. O., Sokolov, A. A., Egorova, Y. V., Konashuk, A. S., Vilkov, O. Y., Gorgoi, M. & Pavlychev, A. A., 2013, в: Journal of Applied Physics. 113, 22, стр. 224301_1-8

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  3. МОДЕЛЬНЫЙ ПОДХОД К РЕШЕНИЮ ОБРАТНОЙ ЗАДАЧИ РЕФЛЕКТОМЕТРИИ И ЕГО ПРИМЕНЕНИЕ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ПЛЕНОК ОКСИДА ГАФНИЯ

    Волков, Ю. О., Кожевников, И. В., Рощин, Б. С., Филатова, Е. О. & Асадчиков, В. Е., 2013, в: КРИСТАЛЛОГРАФИЯ. 58, 1, стр. 146–154

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. 2012

  5. The influence of porous silica substrate on the properties of alumina films studied by X-ray reflection spectroscopy

    Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Romanov, A. A. & Filatova, E. O., 1 июн 2012, в: Technical Physics Letters. 38, 6, стр. 562-564 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Characterization of High-k Dielectrics Internal Structure by X-Ray Spectroscopy and Reflectometry: New Approaches to Interlayer Identification and Analysis (Chapter 7)

    Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V. & Sokolov, A. A., 2012, High –k Gate Dielectrics for CMOS Technology / Ed. by Gang He, Zhaoqi Sun. Wiley-Blackwell, стр. 558, 225-271

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная

  7. Soft X-Ray Reflectometry, Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy, and HRTEM investigations of the internal structure of TiO2(Ti)/SiO2/Si stacks

    Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V., Sokolov, A. A., Ubyivovk, E. V., S. Yulin, U., Gorgoi, M. & Schaefers, F., 2012, в: Science and Technology of Advanced Materials. 13, 1, стр. 015001_1-12

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  8. Кафедра электроники твёрдого тела в Санкт-Петербургском униерситете: К 80-летию кафедры

    Адамчук, В. К., Артамонов, О. М., Барабан, А. П., Виноградов, А. С., Владимиров, Г. Г., Вывенко, О. Ф., Габис, И. Е., Комолов, А. С., Комолов, С. А., Коноров, П. П., Павлычев, А. А., Филатова, Е. О., Шикин, А. М., Шулаков, А. С. & Яфясов, А. М., 2012, Издательство Санкт-Петербургского университета. 277 стр.

    Результаты исследований: Книги, отчёты, сборники › сборник › Рецензирование

  9. 2011

  10. Hexagonal BN: Chemical and structural effects on K-shells excitation: X-ray polaroid effect

    Filatova, E. O., Taracheva, E. Y. & A.Pavlychev, A., 1 апр 2011, Boron: Compounds, Production and Application. Nova Science Publishers, Inc., стр. 93-146 54 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

  11. X-Ray Optics and Inner-Shell Electronics of Hexagonal BN

    Filatova, E. O. & Pavlychev, A. A., 2011, Nova Science Publishers, Inc. 107 стр.

    Результаты исследований: Книги, отчёты, сборники › книга, в т.ч. монография, учебник

  12. X-ray photoelectron spectroscopy for nondestructive analysis of buried interfaces

    Filatova, E. O. & Sokolov, A. A., 2011, в: Journal of Structural Chemistry. 52, Supplement 1, стр. 82-89

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  13. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия высоких энергий как неразрушающий метод исследования скрытых межфазовых границ

    Филатова, Е. О. & Соколов, А. А., 2011, в: ЖУРНАЛ СТРУКТУРНОЙ ХИМИИ. 52, Приложение, стр. S85 - S93

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...10 11 12 13 14 15 16 17 Далее

ID: 173981