131 - 140 из 172Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2014

  2. X-ray spectroscopic study of influence of initial growth conditions on self-organization of thin oxide layers - устный доклад

    Filatova, E. O., Konyushenko, M. A., Konashuk, A. S., Sokolov, A. A. & Drozd, V. E., 2014.

    Результаты исследований: Материалы конференций › тезисы

  3. X-ray spectroscopy of insulator films and interfaces - устный доклад

    Filatova, E. O., 2014, стр. 67-68.

    Результаты исследований: Материалы конференций › тезисы

  4. Мемристор на основе двухслойной структуры с оксидом титана

    Барабан, А. П., Дрозд, В. Е., Конашук, А. С., Селиванов, А. А. & Филатова, Е. О., 2014, стр. 153-156.

    Результаты исследований: Материалы конференций › тезисы

  5. Электрофизические свойства многослойной структуры SiC−Si

    Божевольнов, В. Б., Яфясов, А. М., Миайловский, В. Ю., Егорова, Ю. В., Соколов, А. А. & Филатова, Е. О., 2014, в: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 48, 6, стр. 814 - 817

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. 2013

  7. Effect of thermal annealing and Al2O3-interlayer on intermixing in the TiN/SiO2/Si structure

    Konyushenko, M. A., Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Schaefers, F. & Filatova, E. O., 17 дек 2013, в: Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena. 196, стр. 117-120

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. “Development of a comprehensive approach to study a structure of thin-film systems”

    Филатова, Е. О., 2013, Издательский Центр «Академия».

    Результаты исследований: Книги, отчёты, сборники › отчёт/доклад › научная

  9. Model Approach to Solving the Inverse Problem of X-Ray Reflectometry and Its Application to the Study of the Internal Structure of Hafnium Oxide Films

    Volkov, Y. O., Kozhevnikov, I. V., Roshchin, B. S., Filatova, E. O. & Asadchikov, V. E., 2013, в: Crystallography Reports. 58, 1, стр. 160-167

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  10. Study of Al2O3 nanolayers synthesized onto porous SiO2 using X-ray reflection spectroscopy

    Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Schaefers, F. & Filatova, E. O., 2013, в: Thin Solid Films. 534, стр. 363-366

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  11. X-ray and photoelectron spectroscopic nondestructive methods for thin films and interfaces study. Application to SrTiO3 based heterostuctures

    Filatova, E. O., Kozhevnikov, I. V., Sokolov, A. A., Yegorova, Y. V., Konashuk, A. S., Vilkov, O. Y., Schaefers, F., Gorgoi, M. & Shulakov, A. S., 2013, в: Microelectronic Engineering. 109, стр. 13-16

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  12. X-ray spectroscopic study of SrTiOx films with different interlayers

    Filatova, E. O., Sokolov, A. A., Egorova, Y. V., Konashuk, A. S., Vilkov, O. Y., Gorgoi, M. & Pavlychev, A. A., 2013, в: Journal of Applied Physics. 113, 22, стр. 224301_1-8

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

Назад 1...10 11 12 13 14 15 16 17 18 Далее

ID: 173981