161 - 170 из 172Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2009

  2. Atomic ordering in TiO2 thin films studied by x-ray reflection spectroscopy

    Filatova, E., Taracheva, E., Shevchenko, G., Sokolov, A., Kozhevnikov, I., Yulin, S., Schaefers, F. & Braun, W., 2009, в: Physica Status Solidi (B): Basic Research. 246, 7, стр. 1454-1458

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  3. “Development of Approaches in Methods of X-Ray Reflectometry with Application to Process Engineering in Micro and Nanoelectronics”

    Филатова, Е. О., 2009, Издательский Центр «Академия».

    Результаты исследований: Книги, отчёты, сборники › отчёт/доклад › научная

  4. Investigations of structure of thin HfO2 films by soft x-ray reflectometry techniques

    Filatova, E. O., Sokolov, A. A., Kozhevnikov, I. V., Taracheva, E. Y., Schaefers, F. & Braun, W., 2009, в: Journal of Physics: Condensed Matter. 21, 18, стр. 185012_1-7

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  5. Исследование естественного окисла на поверхности монокристаллического кремния марок КЭФ 7,5 (111), КЭФ 7,5 (100) и КДБ 10(111) методом спектроскопии отражения

    Филатова, Е. О., Соколов, А. А., Тарачева, Е. Ю. & Багров, И. В., 2009, в: ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ". 35, 2, стр. 36 - 41

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. 2007

  7. X-ray spectroscopy

    Filatova, E. O. & Shulakov, A. S., 1 дек 2007, в: NATO Security through Science Series B: Physics and Biophysics. стр. 371-381 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. 2005

  9. Влияние пространственной анизотропии одноосных кристаллов на отражение различно поляризованного рентгеновского излучения Effect of spatial anisotropy of uniaxial crystals on reflection of X-ray radiation with different polarization

    Филатова, Е. О., Тарачева, Е. Ю. & Соколов, А. А., 2005, в: ИЗВЕСТИЯ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК. СЕРИЯ ФИЗИЧЕСКАЯ. 69, 2, стр. 255-258

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  10. РАСЧЕТ АБСОЛЮТНЫХ ЗНАЧЕНИЙ ОПТИЧЕСКИХ ПОСТОЯННЫХ ДИОКСИДА КРЕМНИЯ НА ОСНОВЕ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ УГЛОВЫХ И СПЕКТРАЛЬНЫХ ЗАВИСИМОСТЕЙ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ Calculation of Absolute Value of Optic Constants of Silicon Dioxide Based on Experimental Angular and Spectral Dependencies of Reflection Coefficients

    Филатова, Е. О., Лукьянов, В. А. & Тарачева, Е. Ю., 2005, в: ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 5, стр. 44-49

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. 1999

  12. OPTICAL CONSTANTS OF AMORPHOUS # FOR PHOTONS IN THE RANGE OF 60-3000 EV

    Filatova, E., Lukyanov, V., Barchewitz, R., André, J-M., Idir, M. & Stemmler, P., 1999, в: Journal of Physics: Condensed Matter. 16, стр. 3355-3370

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  13. 1996

  14. DISPERSION OF OPTICAL CONSTANTS OF AMORPHOUS SIO

    Filatova, E. O., Stepanov, A. I. & Luk'yanov, V. A., 1996, в: Optics and Spectroscopy (English translation of Optika i Spektroskopiya). 81, 3, стр. 416-420

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  15. 1995

  16. ORIENTATION DEPENDENCE OF X-RAY REFLECTION FROM BN

    Filatova, E., Pavlychev, A. A. & Blessing, C., 1995, в: Physica B: Condensed Matter. 208-209, 1-4, стр. 417-418

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

Назад 1...13 14 15 16 17 18 Далее

ID: 173981