DOI

Measurements of field emission energy distribution (FEED) by the retarding potential method have been performed for electron emission from the top of mono crystal macroemitter, made by the sublimation method, N doped (n-type) on 4 deg. off 4H-SiC wafers (0001-C). A peculiar feature, revealed from the FEED patterns is the existence of two maxima.

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикации33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2020
ISBN (электронное издание)978-1-7281-9454-7
DOI
СостояниеОпубликовано - июл 2020
Событие33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC - Lyon; France, Лион, Франция
Продолжительность: 5 июл 2020 → 9 июл 2020
https://www.vacuumnanoelectronics.org

Серия публикаций

Название33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2020

конференция

конференция33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC
Сокращенное названиеIVNC
Страна/TерриторияФранция
ГородЛион
Период5/07/20 → 9/07/20
Сайт в сети Internet

    Предметные области Scopus

  • Контрольно-измерительные инструменты
  • Электротехника и электроника

ID: 69857171