DOI

  • Steven Spurgeon
  • Bethany Matthews
  • Peter Sushko
  • Xiayu Linpeng
  • Maria Viitaniemi
  • Mikhail Durnev
  • Mikhail Glazov
  • Andreas Wieck
  • Arne Ludwig
  • Kai Mei Fu
Язык оригиналаанглийский
ЖурналMicroscopy and Microanalysis
Том26
Номер выпускаSuppl 2
DOI
СостояниеОпубликовано - 2020

    Предметные области Scopus

  • Контрольно-измерительные инструменты

ID: 70500602