Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная
Methods of modeling of the test inputs for analysis the digital devices. / Melnik, V.I.; Mikhailov, A.N.; Grishkin, V.M.; Ovsyannikov, D.A.; Yelaev, Y.V.
Methods of modeling of the test inputs for analysis the digital devices. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2014. стр. 112-113.Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная
}
TY - GEN
T1 - Methods of modeling of the test inputs for analysis the digital devices
AU - Melnik, V.I.
AU - Mikhailov, A.N.
AU - Grishkin, V.M.
AU - Ovsyannikov, D.A.
AU - Yelaev, Y.V.
PY - 2014
Y1 - 2014
U2 - 10.1109/ICCTPEA.2014.6893309
DO - 10.1109/ICCTPEA.2014.6893309
M3 - Conference contribution
SN - 9781479953172
SP - 112
EP - 113
BT - Methods of modeling of the test inputs for analysis the digital devices
PB - Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ER -
ID: 7029304