Methods of modeling of the test inputs for analysis the digital devices

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная

Ссылки

http://ieeeexplore.info/xpl/articleDetails.jsp?reload=true&tp=&arnumber=6893309&searchWithin%3Dp_Authors%3A.QT.%2C+%2FA%2F..QT.%26pageNumber%3D7934%26rowsPerPage%3D100

DOI

https://doi.org/10.1109/ICCTPEA.2014.6893309
Другие версии

V.I. Melnik
A.N. Mikhailov
V.M. Grishkin
D.A. Ovsyannikov
Y.V. Yelaev

Язык оригинала	английский
Название основной публикации	Methods of modeling of the test inputs for analysis the digital devices
Издатель	Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Страницы	112-113
ISBN (печатное издание)	9781479953172
DOI	https://doi.org/10.1109/ICCTPEA.2014.6893309
Состояние	Опубликовано - 2014

ID: 7029304

Pure – это продукт компании Elsevier
На данном информационном ресурсе могут быть опубликованы архивные материалы
с упоминанием физических и юридических лиц, включенных Министерством юстиции
Российской Федерации в реестр иностранных агентов

Вход в Pure