DOI

The dielectric spectroscopy data contains information on both the structure and internal bonds of the material and its functional properties. Due to the principles of dielectric spectroscopy, such measurements require rather complex processing algorithms.

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикации2016 14th International Baltic Conference on Atomic Layer Deposition, BALD 2016 - Proceedings
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Страницы57-59
Число страниц3
ISBN (электронное издание)9781509034161
DOI
СостояниеОпубликовано - 24 мар 2017
Событие14th International Baltic Conference on Atomic Layer Deposition, BALD 2016 - St. Petersburg, Российская Федерация
Продолжительность: 1 окт 2016 → 3 окт 2016

конференция

конференция14th International Baltic Conference on Atomic Layer Deposition, BALD 2016
Страна/TерриторияРоссийская Федерация
ГородSt. Petersburg
Период1/10/16 → 3/10/16

    Предметные области Scopus

  • Электроника, оптика и магнитные материалы
  • Поверхности, слои и пленки
  • Атомная и молекулярная физика и оптика
  • Поверхности и интерфейсы
  • Химия и технология процессов
  • Электрохимия

ID: 9294084