Standard
Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. / Плешков, Роман Сергеевич; Гарахин, Сергей Александрович; Кумар, Ниранджан; Полковников, Владимир Николаевич; Сахоненков, Сергей Сергеевич; Свечников, Михаил Владимирович; Филатова, Елена Олеговна; Чхало, Николай Иванович.
XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника". Том 1 Нижний Новгород : Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2022. стр. 582-583.
Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › тезисы в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование
Harvard
Плешков, РС, Гарахин, СА, Кумар, Н, Полковников, ВН, Сахоненков, СС, Свечников, МВ, Филатова, ЕО & Чхало, НИ 2022,
Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. в
XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника". Том. 1, Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, стр. 582-583, XXVI международный симпозиум "Нанофизика и Наноэлектроника", Нижний Новгород, Российская Федерация,
14/03/22.
APA
Плешков, Р. С., Гарахин, С. А., Кумар, Н., Полковников, В. Н., Сахоненков, С. С., Свечников, М. В., Филатова, Е. О., & Чхало, Н. И. (2022).
Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. в
XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника" (Том 1, стр. 582-583). Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского.
Vancouver
Author
Плешков, Роман Сергеевич ; Гарахин, Сергей Александрович ; Кумар, Ниранджан ; Полковников, Владимир Николаевич ; Сахоненков, Сергей Сергеевич ; Свечников, Михаил Владимирович ; Филатова, Елена Олеговна ; Чхало, Николай Иванович. /
Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника". Том 1 Нижний Новгород : Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2022. стр. 582-583
BibTeX
@inbook{f9779342b4774241bf10636c642beb97,
title = "Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be",
abstract = "В рамках данного доклада мы представляем результаты работы по изучению микроструктуры границ и слоев в W/Be и Cr/Be многослойных зеркалах для диапазонов жесткого и мягкого рентгеновского излучения. В ходе исследования применялись методы рентгеновской рефлектометрии, диффузного и комбинационного рассеяния и фотоэлектронной спектроскопии. Особое внимание уделено изучению параметров структур при малых (субнанометровых) толщинах индивидуальных пленок.",
author = "Плешков, {Роман Сергеевич} and Гарахин, {Сергей Александрович} and Ниранджан Кумар and Полковников, {Владимир Николаевич} and Сахоненков, {Сергей Сергеевич} and Свечников, {Михаил Владимирович} and Филатова, {Елена Олеговна} and Чхало, {Николай Иванович}",
year = "2022",
language = "русский",
isbn = "978-5-91326-720-7",
volume = "1",
pages = "582--583",
booktitle = "XXVI Международный симпозиум {"}Нанофизика и наноэлектроника{"}",
publisher = "Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского",
address = "Российская Федерация",
note = "XXVI международный симпозиум {"}Нанофизика и Наноэлектроника{"} ; Conference date: 14-03-2022 Through 17-03-2022",
url = "https://nanosymp.ru/",
}
RIS
TY - CHAP
T1 - Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be
AU - Плешков, Роман Сергеевич
AU - Гарахин, Сергей Александрович
AU - Кумар, Ниранджан
AU - Полковников, Владимир Николаевич
AU - Сахоненков, Сергей Сергеевич
AU - Свечников, Михаил Владимирович
AU - Филатова, Елена Олеговна
AU - Чхало, Николай Иванович
PY - 2022
Y1 - 2022
N2 - В рамках данного доклада мы представляем результаты работы по изучению микроструктуры границ и слоев в W/Be и Cr/Be многослойных зеркалах для диапазонов жесткого и мягкого рентгеновского излучения. В ходе исследования применялись методы рентгеновской рефлектометрии, диффузного и комбинационного рассеяния и фотоэлектронной спектроскопии. Особое внимание уделено изучению параметров структур при малых (субнанометровых) толщинах индивидуальных пленок.
AB - В рамках данного доклада мы представляем результаты работы по изучению микроструктуры границ и слоев в W/Be и Cr/Be многослойных зеркалах для диапазонов жесткого и мягкого рентгеновского излучения. В ходе исследования применялись методы рентгеновской рефлектометрии, диффузного и комбинационного рассеяния и фотоэлектронной спектроскопии. Особое внимание уделено изучению параметров структур при малых (субнанометровых) толщинах индивидуальных пленок.
M3 - тезисы в сборнике материалов конференции
SN - 978-5-91326-720-7
VL - 1
SP - 582
EP - 583
BT - XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника"
PB - Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского
CY - Нижний Новгород
T2 - XXVI международный симпозиум "Нанофизика и Наноэлектроника"
Y2 - 14 March 2022 through 17 March 2022
ER -
