Standard

Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. / Плешков, Роман Сергеевич; Гарахин, Сергей Александрович; Кумар, Ниранджан; Полковников, Владимир Николаевич; Сахоненков, Сергей Сергеевич; Свечников, Михаил Владимирович; Филатова, Елена Олеговна; Чхало, Николай Иванович.

XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника". Vol. 1 Нижний Новгород : Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2022. p. 582-583.

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference abstracts › Research › peer-review

Harvard

Плешков, РС, Гарахин, СА, Кумар, Н, Полковников, ВН, Сахоненков, СС, Свечников, МВ, Филатова, ЕО & Чхало, НИ 2022, Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. in XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника". vol. 1, Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, pp. 582-583, XXVI международный симпозиум "Нанофизика и Наноэлектроника", Нижний Новгород, Russian Federation, 14/03/22.

APA

Плешков, Р. С., Гарахин, С. А., Кумар, Н., Полковников, В. Н., Сахоненков, С. С., Свечников, М. В., Филатова, Е. О., & Чхало, Н. И. (2022). Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. In XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника" (Vol. 1, pp. 582-583). Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского.

Vancouver

Плешков РС, Гарахин СА, Кумар Н, Полковников ВН, Сахоненков СС, Свечников МВ et al. Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. In XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника". Vol. 1. Нижний Новгород: Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского. 2022. p. 582-583

Author

Плешков, Роман Сергеевич ; Гарахин, Сергей Александрович ; Кумар, Ниранджан ; Полковников, Владимир Николаевич ; Сахоненков, Сергей Сергеевич ; Свечников, Михаил Владимирович ; Филатова, Елена Олеговна ; Чхало, Николай Иванович. / Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be. XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника". Vol. 1 Нижний Новгород : Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2022. pp. 582-583

BibTeX

@inbook{f9779342b4774241bf10636c642beb97,
title = "Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be",
abstract = "В рамках данного доклада мы представляем результаты работы по изучению микроструктуры границ и слоев в W/Be и Cr/Be многослойных зеркалах для диапазонов жесткого и мягкого рентгеновского излучения. В ходе исследования применялись методы рентгеновской рефлектометрии, диффузного и комбинационного рассеяния и фотоэлектронной спектроскопии. Особое внимание уделено изучению параметров структур при малых (субнанометровых) толщинах индивидуальных пленок.",
author = "Плешков, {Роман Сергеевич} and Гарахин, {Сергей Александрович} and Ниранджан Кумар and Полковников, {Владимир Николаевич} and Сахоненков, {Сергей Сергеевич} and Свечников, {Михаил Владимирович} and Филатова, {Елена Олеговна} and Чхало, {Николай Иванович}",
year = "2022",
language = "русский",
isbn = "978-5-91326-720-7",
volume = "1",
pages = "582--583",
booktitle = "XXVI Международный симпозиум {"}Нанофизика и наноэлектроника{"}",
publisher = "Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского",
address = "Российская Федерация",
note = "XXVI международный симпозиум {"}Нанофизика и Наноэлектроника{"} ; Conference date: 14-03-2022 Through 17-03-2022",
url = "https://nanosymp.ru/",

}

RIS

TY - CHAP

T1 - Исследование микроструктуры границ раздела в многослойных зеркалах Cr/Be и W/Be

AU - Плешков, Роман Сергеевич

AU - Гарахин, Сергей Александрович

AU - Кумар, Ниранджан

AU - Полковников, Владимир Николаевич

AU - Сахоненков, Сергей Сергеевич

AU - Свечников, Михаил Владимирович

AU - Филатова, Елена Олеговна

AU - Чхало, Николай Иванович

PY - 2022

Y1 - 2022

N2 - В рамках данного доклада мы представляем результаты работы по изучению микроструктуры границ и слоев в W/Be и Cr/Be многослойных зеркалах для диапазонов жесткого и мягкого рентгеновского излучения. В ходе исследования применялись методы рентгеновской рефлектометрии, диффузного и комбинационного рассеяния и фотоэлектронной спектроскопии. Особое внимание уделено изучению параметров структур при малых (субнанометровых) толщинах индивидуальных пленок.

AB - В рамках данного доклада мы представляем результаты работы по изучению микроструктуры границ и слоев в W/Be и Cr/Be многослойных зеркалах для диапазонов жесткого и мягкого рентгеновского излучения. В ходе исследования применялись методы рентгеновской рефлектометрии, диффузного и комбинационного рассеяния и фотоэлектронной спектроскопии. Особое внимание уделено изучению параметров структур при малых (субнанометровых) толщинах индивидуальных пленок.

M3 - тезисы в сборнике материалов конференции

SN - 978-5-91326-720-7

VL - 1

SP - 582

EP - 583

BT - XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника"

PB - Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

CY - Нижний Новгород

T2 - XXVI международный симпозиум "Нанофизика и Наноэлектроника"

Y2 - 14 March 2022 through 17 March 2022

ER -

ID: 98921586