DOI

На результаты измерений толщины неэлектропроводящего покрытия на электропроводящем немагнитном основании с применением существующего амплитудного метода вихретокового неразрушающего контроля оказывает сильное влияние удельная электропроводность основания. Для устранения этой проблемы предлагается использование вихретокового преобразователя с амплитудно-фазовой обработкой сигналов. Его градуировку проводить с использованием нескольких оснований с разной удельной электропроводностью с применением установки-имитатора толщины покрытия, количество градуировочных точек сопоставимо с разрешением толщиномера. Для вычисления толщины покрытия с учетом удельной электропроводности основания используется алгоритм определения причастности точки многоугольнику.
Язык оригиналарусский
Номер статьи6
Страницы (с-по)58-60
Число страниц3
ЖурналДЕФЕКТОСКОПИЯ
Номер выпуска7
DOI
СостояниеОпубликовано - июл 2023

    Предметные области Scopus

  • Прикладные компьютерные науки
  • Контрольно-измерительные инструменты

    Области исследований

  • вихретоковый, толщиномер покрытий, амплитудно-фазовый алгоритм, двухмерная градуировка

ID: 114639105