На результаты измерений толщины неэлектропроводящего покрытия на электропроводящем немагнитном основании с применением существующего амплитудного метода вихретокового неразрушающего контроля оказывает сильное влияние удельная электропроводность основания. Для устранения этой проблемы предлагается использование вихретокового преобразователя с амплитудно-фазовой обработкой сигналов. Его градуировку проводить с использованием нескольких оснований с разной удельной электропроводностью с применением установки-имитатора толщины покрытия, количество градуировочных точек сопоставимо с разрешением толщиномера. Для вычисления толщины покрытия с учетом удельной электропроводности основания используется алгоритм определения причастности точки многоугольнику.
Original languageRussian
Article number6
Pages (from-to)58-60
Number of pages3
JournalДЕФЕКТОСКОПИЯ
Issue number7
DOIs
StatePublished - Jul 2023

    Scopus subject areas

  • Computer Science Applications
  • Instrumentation

ID: 114639105