Standard

Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания. / Соловьев, Игорь Павлович; Сясько, Михаил Владимирович; Соломенчук, Павел.

в: ДЕФЕКТОСКОПИЯ, № 7, 6, 07.2023, стр. 58-60.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Harvard

Соловьев, ИП, Сясько, МВ & Соломенчук, П 2023, 'Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания.', ДЕФЕКТОСКОПИЯ, № 7, 6, стр. 58-60. https://doi.org/10.31857/S0130308223070060

APA

Соловьев, И. П., Сясько, М. В., & Соломенчук, П. (2023). Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания. ДЕФЕКТОСКОПИЯ, (7), 58-60. [6]. https://doi.org/10.31857/S0130308223070060

Vancouver

Соловьев ИП, Сясько МВ, Соломенчук П. Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания. ДЕФЕКТОСКОПИЯ. 2023 Июль;(7):58-60. 6. https://doi.org/10.31857/S0130308223070060

Author

Соловьев, Игорь Павлович ; Сясько, Михаил Владимирович ; Соломенчук, Павел. / Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания. в: ДЕФЕКТОСКОПИЯ. 2023 ; № 7. стр. 58-60.

BibTeX

@article{a9bf5cee12f3463ab51004673a34c028,
title = "Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания.",
abstract = "На результаты измерений толщины неэлектропроводящего покрытия на электропроводящем немагнитном основании с применением существующего амплитудного метода вихретокового неразрушающего контроля оказывает сильное влияние удельная электропроводность основания. Для устранения этой проблемы предлагается использование вихретокового преобразователя с амплитудно-фазовой обработкой сигналов. Его градуировку проводить с использованием нескольких оснований с разной удельной электропроводностью с применением установки-имитатора толщины покрытия, количество градуировочных точек сопоставимо с разрешением толщиномера. Для вычисления толщины покрытия с учетом удельной электропроводности основания используется алгоритм определения причастности точки многоугольнику.",
keywords = "вихретоковый, толщиномер покрытий, амплитудно-фазовый алгоритм, двухмерная градуировка",
author = "Соловьев, {Игорь Павлович} and Сясько, {Михаил Владимирович} and Павел Соломенчук",
year = "2023",
month = jul,
doi = "10.31857/S0130308223070060",
language = "русский",
pages = "58--60",
journal = "ДЕФЕКТОСКОПИЯ",
issn = "0130-3082",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "7",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания.

AU - Соловьев, Игорь Павлович

AU - Сясько, Михаил Владимирович

AU - Соломенчук, Павел

PY - 2023/7

Y1 - 2023/7

N2 - На результаты измерений толщины неэлектропроводящего покрытия на электропроводящем немагнитном основании с применением существующего амплитудного метода вихретокового неразрушающего контроля оказывает сильное влияние удельная электропроводность основания. Для устранения этой проблемы предлагается использование вихретокового преобразователя с амплитудно-фазовой обработкой сигналов. Его градуировку проводить с использованием нескольких оснований с разной удельной электропроводностью с применением установки-имитатора толщины покрытия, количество градуировочных точек сопоставимо с разрешением толщиномера. Для вычисления толщины покрытия с учетом удельной электропроводности основания используется алгоритм определения причастности точки многоугольнику.

AB - На результаты измерений толщины неэлектропроводящего покрытия на электропроводящем немагнитном основании с применением существующего амплитудного метода вихретокового неразрушающего контроля оказывает сильное влияние удельная электропроводность основания. Для устранения этой проблемы предлагается использование вихретокового преобразователя с амплитудно-фазовой обработкой сигналов. Его градуировку проводить с использованием нескольких оснований с разной удельной электропроводностью с применением установки-имитатора толщины покрытия, количество градуировочных точек сопоставимо с разрешением толщиномера. Для вычисления толщины покрытия с учетом удельной электропроводности основания используется алгоритм определения причастности точки многоугольнику.

KW - вихретоковый

KW - толщиномер покрытий

KW - амплитудно-фазовый алгоритм

KW - двухмерная градуировка

UR - https://elibrary.ru/DWTPBN

U2 - 10.31857/S0130308223070060

DO - 10.31857/S0130308223070060

M3 - статья

SP - 58

EP - 60

JO - ДЕФЕКТОСКОПИЯ

JF - ДЕФЕКТОСКОПИЯ

SN - 0130-3082

IS - 7

M1 - 6

ER -

ID: 114639105