21 - 25 из 25Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2009

  2. СВЕТОИНДУЦИРОВАННАЯ НЕКОВАЛЕНТНАЯ ФИКСАЦИЯ ДНК И СИНТЕТИЧЕСКИХ ПОЛИИОНОВ НА ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ LIGHT-INDUCED NONCOVALENT FIXATION OF DNA AND SYNTHETIC POLYIONS ON THE SURFACE OF SILICON SINGLE CRYSTALS

    Волков, И. Л., Базлов, Н. В., Бондаренко, А. С., Вывенко, О. Ф. & Касьяненко, Н. А., 2009, в: ЖУРНАЛ СТРУКТУРНОЙ ХИМИИ. 5, стр. 999-1006

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. 2007

  4. Search for resonant absorption of solar axions emitted in an M1 transition in 57Fe nuclei

    Derbin, A. V., Egorov, A. I., Mitropol'Sky, I. A., Muratova, V. N., Bazlov, N. V., Bakhlanov, S. V., Semenov, D. A. & Unzhakov, E. V., 1 янв 2007, в: JETP Letters. 85, 1, стр. 12-16 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. 2005

  6. Impact of hydrogenation on electrical properties of NiSi2 precipitates in silicon

    Vyvenko, O. F., Bazlov, N. V., Trushin, M. V., Nadolinski, A. A., Seibt, M., Schröter, W. & Hahn, G., 2005, Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XI, Gadest 2005 - Proceedings of the 11th International Autumn Meeting. Trans Tech Publications Ltd, стр. 279-284 6 стр. (Solid State Phenomena; том 108-109).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › Рецензирование

  7. 1987

  8. UNIVERSAL CAPACITIVE SPECTROMETER FOR MEASURING THE PARAMETERS OF DEEP CENTERS IN SEMICONDUCTORS AND MOS STRUCTURES.

    Bazlov, N. V., Vyvenko, O. F. & Tul'ev, A. V., мая 1987, в: Instruments and experimental techniques New York. 30, 3 pt 2, стр. 696-701 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. 1986

  10. DEEP LEVELS DUE TO DISLOCATIONS IN CdS.

    Vyvenko, O. F., Bazlov, N. V. & Tul'ev, A. V., 1986, в: Bulletin of the Academy of Sciences of the U.S.S.R. Physical series. 51, 4, стр. 39-43 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья в журнале по материалам конференции › Рецензирование

Назад 1 2 3 Далее

ID: 147004