11 - 20 из 25Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2016

  2. A measurement method of a detector response function for monochromatic electrons based on the Compton scattering

    Bakhlanov, S. V., Bazlov, N. V., Derbin, A. V., Drachnev, I. S., Kayunov, A. S., Muratova, V. N., Semenov, D. A. & Unzhakov, E. V., 11 июн 2016, в: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment. 821, стр. 13-16 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Structural and Electrical Properties of AlN Layers Grown on Silicon by Reactive RF Magnetron Sputtering

    Bazlov, N., Pilipenko, N., Vyvenko, O., Kotina, I., Petrov, Y., Mikhailovskii, V., Ubyivovk, E. & Zharinov, V., 2016, Structural and Electrical Properties of AlN Layers Grown on Silicon by Reactive RF Magnetron Sputtering. American Institute of Physics, 9 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › Рецензирование

  4. 2014

  5. Study of deposited thin films containing metal hydride phase

    Dobrotvorskii, M. A., Baraban, A. P., Voyt, A. P., Gabis, I. E. & Bazlov, N. V., 2014.

    Результаты исследований: Материалы конференций › тезисы

  6. 2013

  7. Charge-controlled fixation of DNA molecules on silicon surface and electro-physical properties of Au–DNA–Si interface

    Bazlov, N. V., Vyvenko, O. F., Sokolov, P. A., Kas'Yanenko, N. A. & Petrov, Y. V., 2013, в: Applied Surface Science. 267, стр. 224-228

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  8. 2011

  9. DNA immobilization on n-type silicon surface and electrophysical properties of Au-DNA-(n-Si) structures1

    Sokolov, P. A., Bazlov, N. V., Puchkova, A. O., Vyvenko, O. F. & Kasyanenko, N. A., сен 2011, в: Protection of Metals and Physical Chemistry of Surfaces. 47, 5, стр. 566-571 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. DNA Immobilization on n-Type Silicon Surface and Electrophysical Properties of Au/DNA/(n-Si) Structures

    Sokolov, P. A., Bazlov, N. V., Puchkova, A. O., Vyvenko, O. F. & Kasyanenko, N. A., 2011, в: Protection of Metals and Physical Chemistry of Surfaces. 47, 5, стр. 566–571

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. 2009

  12. Dislocation luminescence and electrical properties of dislocation network produced by silicon direct wafer bonding

    Bondarenko, A., Vyvenko, O., Bazlov, N. & Kononchuk, O., 15 дек 2009, в: Physica B: Condensed Matter. 404, 23-24, стр. 4608-4611 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  13. Capacitance transient X-ray absorption spectroscopy of semiconducting structures.

    Bazlov, N., Vyvenko, O., Bondarenko, A., Trushin, M., Novikov, A., Vinogradov, A., Brzhezinskaya, M. & Ovsyannikov, R., 2009, в: Superlattices and Microstructures. 45, 4-5, стр. 190-199

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  14. LIGHT-INDUCED NONCOVALENT FIXATION OF DNA AND SYNTHETIC POLYIONS ON THE SURFACE OF SILICON SINGLE CRYSTALS

    Volkov, I. L., Bazlov, N. V., Bondarenko, A. S., Vyvenko, O. F. & Kas'yanenko, N. A., 2009, в: Journal of Structural Chemistry. 50, 5, 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  15. РАЗРАБОТКА СПОСОБА НЕКОВАЛЕНТНОЙ ФИКСАЦИИ ДНК НА ПОВЕРХНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛА КРЕМНИЯ

    Волков, И. Л., Базлов, Н. В., Бондаренко, А. С., Вывенко, О. Ф. & Касьяненко, Н. А., 2009, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 3, стр. 45-51

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 Далее

ID: 147004