11 - 20 из 57Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2021

  2. Школьные олимпиады СПбГУ 2020. Информатика

    Трофимов, В. В., Мельников, В. В., Стариков, Д. А., Акимова, А. Н. & Иванов, М. П., 2021, Издательство Санкт-Петербургского университета. 56 стр.

    Результаты исследований: Книги, отчёты, сборники › учебное-методическое пособие › учебная

  3. 2020

  4. ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ГОЛОГРАФИЧЕСКОГО МИКРОСКОПА

    Егоров, Н. В., Антонова, Л. И., Карпов, А. Г., Трофимов, В. В. & Федоров, А. Г., окт 2020, в: ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 10, стр. 79-84 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Theoretical and Experimental Evaluation of the Electrical Parameters of a Holographic Microscope

    Egorov, N. V., Antonova, L. I., Karpov, A. G., Trofimov, V. V. & Fedorov, A. G., 1 сен 2020, в: Journal of Surface Investigation. 14, 5, стр. 1061-1065 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. The Energy Spectrum of Field Emission Electrons from 4H Silicon Carbide

    Никифоров, К. А., Трофимов, В. В., Егоров, Н. В., Ильин, В., Голубков, В. & Иванов, А., июл 2020, 33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2020. 9203525. (33rd International Vacuum Nanoelectronics Conference, IVNC 2020).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  7. Field electron emission spectroscopy of silicon carbide

    Nikiforov, K., Trofimov, V., Egorov, N., Ilyin, V., Golubkov, V. & Ivanov, A., 2020, 7th ITG International Vacuum Tlectronics Workshop and 13th International Vacuum Electron Sources Conference : Book of abstarcts. Gaertner, G. & E. A. (ред.). стр. 31

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › иная часть книжной публикации › научная › Рецензирование

  8. АЛГОРИТМЫ ФАЗОВОГО ПОИСКА ДЛЯ ТРЕХМЕРНОЙ ВИЗУАЛИЗАЦИИ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СТРУКТУР, ПОЛУЧЕННЫХ С ПОМОЩЬЮ ЭЛЕКТРОНОВ НИЗКОЙ ЭНЕРГИИ

    Трофимов, В. В., Федоров, А. Г. & Федорова, Л., 2020, стр. 105.

    Результаты исследований: Материалы конференций › тезисы › Рецензирование

  9. 2019

  10. Atomic Structure Probing of Thin Metal Films via Vacuum Holographic Microscopy

    Egorov, N. V., Antonova, L. I., Trofimov, V. V. & Gileva, A. Y., 1 ноя 2019, в: Journal of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 13, 6, стр. 1267-1271 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. 2018

  12. The energy spectrum of field emission electrons from HOPG, mwCNT and graphene-like structures

    Fursey, G., Zakirov, I., Bagraev, N., Trofimov, V., Bocharov, V., Nashchekin, A., Popov, E. & Егоров, Н. В., 1 ноя 2018, 2018 31st International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 8520131

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  13. 2017

  14. Experimental study of the low threshold electron emission behavior from multi-layered graphene-like structures

    Fursey, G., Zakirov, I., Egorov, N. & Trofimov, V., 24 мар 2017, 2016 14th International Baltic Conference on Atomic Layer Deposition, BALD 2016 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., стр. 53-56 4 стр. 7886536

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  15. Study of the Optimum Conditions of a Vacuum Holographic Microscope

    Egorov, N. V., Gileva, A. Y., Antonova, L. I., Trofimov, V. V. & Karpov, A. G., мар 2017, в: Journal of Surface Investigation. 11, 2, стр. 449-451 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 5 6 Далее

ID: 154516