1. 2011
  2. Technique for investigating the spatial structure of thin films at a nanolevel

    Egorov, N. V., Karpov, A. G., Antonova, L. I., Fedorov, A. G., Trofimov, V. V. & Antonov, S. R., окт 2011, в: Journal of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 5, 5, стр. 992-995 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Алгоритм восстановления трехмерной атомной структуры исследуемого образца по голографическим изображениям

    Егоров, Н. В., Карпов, А. Г., Антонова, Л. И., Федоров, А. Г. & Трофимов, В. В., 2011, Материалы второй международной конферен-ции STRANN «Приоритет-ные направления научных исследований нанообъек-тов искусственного и природного происхожде-ния» 25-26 мая 2011 г.. стр. 23-24

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике

  4. Методика исследования пространственной структуры тонких пленок на наноуровне

    Егоров, Н. В., Карпов, А. Г., Антонова, Л. И., Федоров, А. Г., Трофимов, В. В. & Антонов, С. Р., 2011, в: ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ. 10, стр. 83-86

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. Методика неразрушающего контроля и исследования пространственной структуры тонких пленок металлов в голографическом микроскопе

    Егоров, Н. В., Карпов, А. Г., Антонова, Л. И., Федоров, А. Г. & Трофимов, В. В., 2011, Высокие технологии, обра-зование, промышленность. Т.3: Сборник статей Одиннадцатой международной научно-практической конференции «Фундаментальные и прикладные исследования, разработка и применение высоких технологий в промышленности», 27-29 апреля 2011, Санкт-Петербург, Россия. Издательство Санкт-Петербургского Государственного Политехнического Университета, стр. 212-214

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференции

  6. 2010
  7. Метод косвенного измерения малых токов в эмиссионных системах

    Трофимов, В. В., 2010, Метод косвенного измерения малых токов в эмиссионных системах. Издательство Санкт-Петербургского университета, стр. 231-236

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике

  8. Моделирование перестроенного вольфрамового острия

    Трофимов, В. В. & Жуков, Д. В., 2010, Моделирование перестроенного вольфрамового острия. Издательство «ВВМ», стр. 130

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференцииРецензирование

  9. 2008
  10. Задача модернизации системы масс-спектрометрического анализа.

    Жуков, Д. В. & Трофимов, В. В., 2008, Задача модернизации системы масс-спектрометрического анализа.. Издательство Санкт-Петербургского университета, стр. 127-131

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференции

Назад 12 3 4 5 6 Далее

ID: 154516