1 - 2 из 2Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2007

  2. Enhancement of IR emission from a dislocation network in Si due to an external bias voltage

    Yu, X., Vyvenko, O. F., Reiche, M. & Kittler, M., сен 2007, в: Materials Science and Engineering C. 27, 5-8 SPEC. ISS., стр. 1026-1029 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Silicon nanostructures for IR light emitters

    Kittler, M., Arguirov, T., Seifert, W., Yu, X., Jia, G., Vyvenko, O. F., Mchedlidze, T., Reiche, M., Sha, J. & Yang, D., сен 2007, в: Materials Science and Engineering C. 27, 5-8 SPEC. ISS., стр. 1252-1259 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 18613104