Standard

Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2. / Смирнов, Михаил Борисович; Панькин, Дмитрий Васильевич; Рогинский, Евгений Михайлович; Савин, А.В.

In: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА, Vol. 64, No. 11, 11.2022, p. 1701-1710.

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Harvard

Смирнов, МБ, Панькин, ДВ, Рогинский, ЕМ & Савин, АВ 2022, 'Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2', ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА, vol. 64, no. 11, pp. 1701-1710. https://doi.org/10.21883/FTT.2022.11.53323.430

APA

Смирнов, М. Б., Панькин, Д. В., Рогинский, Е. М., & Савин, А. В. (2022). Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2. ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА, 64(11), 1701-1710. https://doi.org/10.21883/FTT.2022.11.53323.430

Vancouver

Смирнов МБ, Панькин ДВ, Рогинский ЕМ, Савин АВ. Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2. ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. 2022 Nov;64(11):1701-1710. https://doi.org/10.21883/FTT.2022.11.53323.430

Author

Смирнов, Михаил Борисович ; Панькин, Дмитрий Васильевич ; Рогинский, Евгений Михайлович ; Савин, А.В. / Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2. In: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. 2022 ; Vol. 64, No. 11. pp. 1701-1710.

BibTeX

@article{e144d4925f234008a19f2af5bb0a6eed,
title = "Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2",
abstract = "Методом компьютерного моделирования с применением неэмпирических квантово-механических расчетов изучена структура, фононные состояния и колебательные спектры бинарных сверхрешеток Si/SiO2, слои которых состоят из кристаллического кремния и β-кристобалита. Найдены устойчивые структуры сверх-решеток со сверхтонкими интерфейсами, состоящими всего из одного слоя атомов Si2+. Рассчитаны их ИК и КР-спектры, в которых выделены характеристические линии, по которым можно установить наличие интерфейсов данного типа.",
keywords = "оксид-полупроводниковые гетероструктуры, сверхрешетки, компьютерное моделирова- ние, метод функционала плотности, колебательные спектры.",
author = "Смирнов, {Михаил Борисович} and Панькин, {Дмитрий Васильевич} and Рогинский, {Евгений Михайлович} and А.В. Савин",
year = "2022",
month = nov,
doi = "10.21883/FTT.2022.11.53323.430",
language = "русский",
volume = "64",
pages = "1701--1710",
journal = "ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА",
issn = "0367-3294",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "11",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2

AU - Смирнов, Михаил Борисович

AU - Панькин, Дмитрий Васильевич

AU - Рогинский, Евгений Михайлович

AU - Савин, А.В.

PY - 2022/11

Y1 - 2022/11

N2 - Методом компьютерного моделирования с применением неэмпирических квантово-механических расчетов изучена структура, фононные состояния и колебательные спектры бинарных сверхрешеток Si/SiO2, слои которых состоят из кристаллического кремния и β-кристобалита. Найдены устойчивые структуры сверх-решеток со сверхтонкими интерфейсами, состоящими всего из одного слоя атомов Si2+. Рассчитаны их ИК и КР-спектры, в которых выделены характеристические линии, по которым можно установить наличие интерфейсов данного типа.

AB - Методом компьютерного моделирования с применением неэмпирических квантово-механических расчетов изучена структура, фононные состояния и колебательные спектры бинарных сверхрешеток Si/SiO2, слои которых состоят из кристаллического кремния и β-кристобалита. Найдены устойчивые структуры сверх-решеток со сверхтонкими интерфейсами, состоящими всего из одного слоя атомов Si2+. Рассчитаны их ИК и КР-спектры, в которых выделены характеристические линии, по которым можно установить наличие интерфейсов данного типа.

KW - оксид-полупроводниковые гетероструктуры, сверхрешетки, компьютерное моделирова- ние, метод функционала плотности, колебательные спектры.

U2 - 10.21883/FTT.2022.11.53323.430

DO - 10.21883/FTT.2022.11.53323.430

M3 - статья

VL - 64

SP - 1701

EP - 1710

JO - ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА

JF - ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА

SN - 0367-3294

IS - 11

ER -

ID: 102798037