Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2

Standard

Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2. / Смирнов, Михаил Борисович; Панькин, Дмитрий Васильевич; Рогинский, Евгений Михайлович; Савин, А.В.

в: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА, Том 64, № 11, 11.2022, стр. 1701-1710.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

BibTeX

@article{e144d4925f234008a19f2af5bb0a6eed,

title = "Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2",

abstract = "Методом компьютерного моделирования с применением неэмпирических квантово-механических расчетов изучена структура, фононные состояния и колебательные спектры бинарных сверхрешеток Si/SiO2, слои которых состоят из кристаллического кремния и β-кристобалита. Найдены устойчивые структуры сверх-решеток со сверхтонкими интерфейсами, состоящими всего из одного слоя атомов Si2+. Рассчитаны их ИК и КР-спектры, в которых выделены характеристические линии, по которым можно установить наличие интерфейсов данного типа.",

keywords = "оксид-полупроводниковые гетероструктуры, сверхрешетки, компьютерное моделирова- ние, метод функционала плотности, колебательные спектры.",

author = "Смирнов, {Михаил Борисович} and Панькин, {Дмитрий Васильевич} and Рогинский, {Евгений Михайлович} and А.В. Савин",

year = "2022",

month = nov,

doi = "10.21883/FTT.2022.11.53323.430",

language = "русский",

volume = "64",

pages = "1701--1710",

journal = "ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА",

issn = "0367-3294",

publisher = "Издательство {"}Наука{"}",

number = "11",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Теоретическое исследование структуры и колебательных спектров сверхрешеток Si/SiO2

AU - Смирнов, Михаил Борисович

AU - Панькин, Дмитрий Васильевич

AU - Рогинский, Евгений Михайлович

AU - Савин, А.В.

PY - 2022/11

Y1 - 2022/11

N2 - Методом компьютерного моделирования с применением неэмпирических квантово-механических расчетов изучена структура, фононные состояния и колебательные спектры бинарных сверхрешеток Si/SiO2, слои которых состоят из кристаллического кремния и β-кристобалита. Найдены устойчивые структуры сверх-решеток со сверхтонкими интерфейсами, состоящими всего из одного слоя атомов Si2+. Рассчитаны их ИК и КР-спектры, в которых выделены характеристические линии, по которым можно установить наличие интерфейсов данного типа.

AB - Методом компьютерного моделирования с применением неэмпирических квантово-механических расчетов изучена структура, фононные состояния и колебательные спектры бинарных сверхрешеток Si/SiO2, слои которых состоят из кристаллического кремния и β-кристобалита. Найдены устойчивые структуры сверх-решеток со сверхтонкими интерфейсами, состоящими всего из одного слоя атомов Si2+. Рассчитаны их ИК и КР-спектры, в которых выделены характеристические линии, по которым можно установить наличие интерфейсов данного типа.

KW - оксид-полупроводниковые гетероструктуры, сверхрешетки, компьютерное моделирова- ние, метод функционала плотности, колебательные спектры.

U2 - 10.21883/FTT.2022.11.53323.430

DO - 10.21883/FTT.2022.11.53323.430

M3 - статья

VL - 64

SP - 1701

EP - 1710

JO - ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА

JF - ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА

SN - 0367-3294

IS - 11

ER -

ID: 102798037