Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии › SPbU Researchers Portal

Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Links

http://journals.ioffe.ru/articles/61955
Final published version

DOI

https://doi.org/10.61011/FTP.2025.06.61955.8008
Final published version

В.Д. Родин
В.Ю. Аксенов
А.В. Анкудинов
В.О. Большаков
А.С. Власов
Юлия Жарова
Игорь Владимирович Илькив
Р.В. Левин
А.В. Малевская
А.М. Минтаиров

Original language	Russian
Pages (from-to)	328-332
Journal	ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ
Volume	59
Issue number	6
DOIs	https://doi.org/10.61011/FTP.2025.06.61955.8008
State	Published - 2025

ID: 144586736