131 - 140 out of 143Page size: 10
  1. 2011

  2. Secondary electrons energy distribution and energy selective imaging in helium ion microscope. Advancements in Helium Ion Microscopy

    Vyvenko, O. F. & Petrov, Y. V., 2011, In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 8036, p. 80360O

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  3. Особенности люминесценции слоев SiO2 на кремнии в УФ-области спектра.

    Барабан, А. П., Бондаренко, А. С., Бондаренко, В. П., Петров, Ю. В. & Тимофеева, К. А., 2011, In: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 2, p. 24-29

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  4. 2010

  5. Scanning Helium Ion Microscope: Distribution of Secondary Electrons and Ion Channeling

    Petrov, Y. V., Vyvenko, O. F. & Bondarenko, A. S., 2010, In: Journal of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 4, 5, 4 p.

    Research output: Contribution to journal › Article

  6. 2009

  7. Электролюминесценция в структурах кремний-диэлектрик в красной области спектра Electroluminescence of silicon-insulator structures in red branches of spectra

    Барабан, А. П., Дмитриев, В. А., Петров, Ю. В. & Тимофеева, К. А., 2009, In: ИЗВЕСТИЯ РОССИЙСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ПЕДАГОГИЧЕСКОГО УНИВЕРСИТЕТА ИМ. А.И. ГЕРЦЕНА. 79, p. 128-133

    Research output: Contribution to journal › Article

  8. Электролюминесценция твердотельных слоистых структур на основе кремния.

    Барабан, А. П., Дмитриев, В. А. & Петров, Ю. В., 2009, Издательство Санкт-Петербургского университета. 195 p.

    Research output: Book/Report/Anthology › Book › Research

  9. 2008

  10. Charge state of luminescence centers in the Si-SiO2 structures subjected to sequential implantation with silicon and carbon ions

    Baraban, A. P. & Petrov, Y. V., 1 Dec 2008, In: Semiconductors. 42, 13, p. 1515-1518 4 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  11. 2007

  12. Application of incubation time approach to simulate dynamic crack propagation

    Bratov, V. & Petrov, Y., 2007, In: International Journal of Fracture. 146, 1-2, p. 53-60 8 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  13. ЗАРЯДОВОЕ СОСТОЯНИЕ ЦЕНТРОВ ЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ В СТРУКТУРАХ SI-SIO 2 , ПОДВЕРГНУТЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОЙ ИМПЛАНТАЦИИ ИОНАМИ КРЕМНИЯ И УГЛЕРОДА

    Барабан, А. П. & Петров, Ю. В., 2007, In: ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ. ЭЛЕКТРОНИКА. 3, p. 18-22

    Research output: Contribution to journal › Article

  14. 2006

  15. Electroluminescence of Si-SiO2 structures subjected to sequential ion implantation with silicon and carbon

    Baraban, A. P. & Petrov, Y. V., 1 May 2006, In: Physics of the Solid State. 48, 5, p. 966-968 3 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  16. ЭЛЕКТРОЛЮМИНЕСЦЕНЦИЯ СТРУКТУР SI-SIO 2 , ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНО ИМПЛАНТИРОВАННЫХ КРЕМНИЕМ И УГЛЕРОДОМ

    Барабан, А. П. & Петров, Ю. В., 2006, In: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. 5, p. 909-911

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Previous 1...10 11 12 13 14 15 Next

ID: 200801