DOI

  • R. A. Senin
  • A. S. Khlebnikov
  • A. E. Vyazovetskova
  • I. A. Blinov
  • A. O. Golubitskii
  • I. V. Kazakov
  • A. A. Vorob'Ev
  • A. V. Buzmakov
  • V. E. Asadchikov
  • V. A. Shishkov
  • E. Kh Mukhamedzhanov
  • M. V. Kovalchuk

An upgraded X-ray Topography and Microtomography (XRT-MT) station is described, the parameters of the optical schemes and detectors are given, and the experimental possibilities of the station are analyzed. Examples of tomographic reconstructions are reported which demonstrate spatial resolutions of 2.5 and 10 μm at fields of view of 2.5 and 10 mm, respectively.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)517-522
Число страниц6
ЖурналCrystallography Reports
Том58
Номер выпуска3
DOI
СостояниеОпубликовано - мая 2013
Опубликовано для внешнего пользованияДа

    Предметные области Scopus

  • Химия (все)
  • Материаловедение (все)
  • Физика конденсатов

ID: 88210451