Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная
Stress analysis of bi-material plane with an elliptic hole by analytical and numerical methods. / Malkova, Yulia; Petrukhin, Ruslan.
Young Researchers in Vacuum Micro/Nano Electronics (VMNE-YR). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2016. стр. 1-6.Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная
}
TY - GEN
T1 - Stress analysis of bi-material plane with an elliptic hole by analytical and numerical methods
AU - Malkova, Yulia
AU - Petrukhin, Ruslan
PY - 2016
Y1 - 2016
U2 - 10.1109/VMNEYR.2016.7880409
DO - 10.1109/VMNEYR.2016.7880409
M3 - Conference contribution
SP - 1
EP - 6
BT - Young Researchers in Vacuum Micro/Nano Electronics (VMNE-YR)
PB - Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
T2 - 2016 Young Researchers in Vacuum Micro/Nano Electronics, VMNE-YR 2016
Y2 - 4 October 2016 through 5 October 2016
ER -
ID: 7657967