DOI

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona, USA, July 29 – August 2, 2012.

Язык оригиналаанглийский
Страницы (с-по)824-825
Число страниц2
ЖурналMicroscopy and Microanalysis
Том18
Номер выпускаS2
DOI
СостояниеОпубликовано - 1 янв 2012

    Предметные области Scopus

  • Контрольно-измерительные инструменты

ID: 35937124