• I. V. Sokolov
  • Ya A. Fofanov

High sensitive polarization-modulation microscopy of transparent objects with the use of single mode squeezed light and spatially multimode squeezed light is discussed. Criterion for the evaluation of threshold sensitivity and resolving power of polarization measurements is suggested.

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикацииProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
РедакторыAnatoliy S. Chirkin, Sergei N. Bagayev
Страницы384-388
Число страниц5
СостояниеОпубликовано - 1996
СобытиеAtomic and Quantum Optics: High-Precision Measurements - St. Petersburg, Russia
Продолжительность: 27 июн 1995 → 1 июл 1995

Серия публикаций

НазваниеProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Том2799

конференция

конференцияAtomic and Quantum Optics: High-Precision Measurements
ГородSt. Petersburg, Russia
Период27/06/95 → 1/07/95

    Предметные области Scopus

  • Электроника, оптика и магнитные материалы
  • Физика конденсатов
  • Прикладные компьютерные науки
  • Прикладная математика
  • Электротехника и электроника

ID: 73496911