Standard

ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ AG-AS-SE-TE. / Бобылев, Ю. С; Мурин, И. В.; Тверьянович, Ю. С.

в: ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА, № 2, 2005, стр. 223-227.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Harvard

Бобылев, ЮС, Мурин, ИВ & Тверьянович, ЮС 2005, 'ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ AG-AS-SE-TE', ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА, № 2, стр. 223-227. <http://elibrary.ru/item.asp?id=9151695>

APA

Бобылев, Ю. С., Мурин, И. В., & Тверьянович, Ю. С. (2005). ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ AG-AS-SE-TE. ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА, (2), 223-227. http://elibrary.ru/item.asp?id=9151695

Vancouver

Бобылев ЮС, Мурин ИВ, Тверьянович ЮС. ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ AG-AS-SE-TE. ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА. 2005;(2):223-227.

Author

Бобылев, Ю. С ; Мурин, И. В. ; Тверьянович, Ю. С. / ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ AG-AS-SE-TE. в: ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА. 2005 ; № 2. стр. 223-227.

BibTeX

@article{c289cfb98db243129d59e4e70a997c93,
title = "ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ AG-AS-SE-TE",
abstract = "Методом импедансометрии изучена электропроводность стекол системы Ag-As-Те-Se по двум разрезам: Ag0.2-As0.4-{Тех -Se1-х )0,4 и (Ag2Se)o,2- [(As2Te3)x-(As2Se3)1-х]o.8 Проведено измерение чисел переноса по методу Вагнера. Обнаружено, что в исследованных стеклах, содержащих большое количество серебра, электроннодырочная проводимость обусловлена в основном миграцией электронов, а не дырок, как это наблюдается обычно в халькогенидных стеклах.",
author = "Бобылев, {Ю. С} and Мурин, {И. В.} and Тверьянович, {Ю. С.}",
year = "2005",
language = "русский",
pages = "223--227",
journal = "ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА",
issn = "0132-6651",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "2",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ СТЕКОЛ СИСТЕМЫ AG-AS-SE-TE

AU - Бобылев, Ю. С

AU - Мурин, И. В.

AU - Тверьянович, Ю. С.

PY - 2005

Y1 - 2005

N2 - Методом импедансометрии изучена электропроводность стекол системы Ag-As-Те-Se по двум разрезам: Ag0.2-As0.4-{Тех -Se1-х )0,4 и (Ag2Se)o,2- [(As2Te3)x-(As2Se3)1-х]o.8 Проведено измерение чисел переноса по методу Вагнера. Обнаружено, что в исследованных стеклах, содержащих большое количество серебра, электроннодырочная проводимость обусловлена в основном миграцией электронов, а не дырок, как это наблюдается обычно в халькогенидных стеклах.

AB - Методом импедансометрии изучена электропроводность стекол системы Ag-As-Те-Se по двум разрезам: Ag0.2-As0.4-{Тех -Se1-х )0,4 и (Ag2Se)o,2- [(As2Te3)x-(As2Se3)1-х]o.8 Проведено измерение чисел переноса по методу Вагнера. Обнаружено, что в исследованных стеклах, содержащих большое количество серебра, электроннодырочная проводимость обусловлена в основном миграцией электронов, а не дырок, как это наблюдается обычно в халькогенидных стеклах.

M3 - статья

SP - 223

EP - 227

JO - ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА

JF - ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА

SN - 0132-6651

IS - 2

ER -

ID: 5026553