Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
Кинетика роста наномембран полупроводниковых соединений III-V с учетом потока ре-эмиссии. / Дубровский, Владимир Германович.
в: Письма в Журнал технической физики, Том 49, № 13, 2023, стр. 25-27.Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование
}
TY - JOUR
T1 - Кинетика роста наномембран полупроводниковых соединений III-V с учетом потока ре-эмиссии
AU - Дубровский, Владимир Германович
PY - 2023
Y1 - 2023
N2 - Получено уравнение роста наномембран полупроводниковых соединений III-V на подложках с одномерными массивами полосков в оксидной маске с учетом потока реэмиссии элемента группы III. Показано, что высота наномембран увеличивается с увеличением расстояния между ними и уменьшением ширины мембран. Кинетика роста наномембран на маскированных подложках и их морфология сильно отличаются от случая адсорбирующих подложек, что необходимо учитывать при проведении ростовых экспериментов. Ключевые слова: полупроводниковые соединения III-V, наномембраны, поток реэмиссии, скорость роста, моделирование.
AB - Получено уравнение роста наномембран полупроводниковых соединений III-V на подложках с одномерными массивами полосков в оксидной маске с учетом потока реэмиссии элемента группы III. Показано, что высота наномембран увеличивается с увеличением расстояния между ними и уменьшением ширины мембран. Кинетика роста наномембран на маскированных подложках и их морфология сильно отличаются от случая адсорбирующих подложек, что необходимо учитывать при проведении ростовых экспериментов. Ключевые слова: полупроводниковые соединения III-V, наномембраны, поток реэмиссии, скорость роста, моделирование.
UR - https://www.mendeley.com/catalogue/3ca94008-8633-364c-a028-446741e1bd98/
U2 - 10.21883/PJTF.2023.13.55732.19590
DO - 10.21883/PJTF.2023.13.55732.19590
M3 - статья
VL - 49
SP - 25
EP - 27
JO - ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ"
JF - ПИСЬМА В "ЖУРНАЛ ТЕХНИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ"
SN - 0320-0116
IS - 13
ER -
ID: 107027220