Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная
Расширение возможностей детализации локальной атомной структуры наносистем на основе графена и топологических изоляторов методом СЗМ. / Петухов, А.Е.; Усачёв, Д.Ю.; Рыбкин, А.Г.; Шикин, А.М.
Нанофизика и наноэлектроника: Труды XX Международного симпозиума. В 2 т. . Том 1 Нижний-Новгород : Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 2016. стр. 314-315.Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная
}
TY - GEN
T1 - Расширение возможностей детализации локальной атомной структуры наносистем на основе графена и топологических изоляторов методом СЗМ
AU - Петухов, А.Е.
AU - Усачёв, Д.Ю.
AU - Рыбкин, А.Г.
AU - Шикин, А.М.
PY - 2016
Y1 - 2016
N2 - Методами сканирующей зондовой микроскопии исследована атомная и электронная структура наносистем на основе графена и топологических изоляторов. Показано, что применение метода CITS одновременно с записью STM-изображения позволяет сопоставлять с атомным латеральным разрешением структуру поверхности и локальную плотность электронных состояний вблизи уровня Ферми. Благодаря этому для систем с различными химическими атомами в кристаллической решетке удаѐтся добиться «химического контраста» между атомами разного сорта, что, в свою очередь, позволяет производить расширенный структурный анализ исследуемых образцов.
AB - Методами сканирующей зондовой микроскопии исследована атомная и электронная структура наносистем на основе графена и топологических изоляторов. Показано, что применение метода CITS одновременно с записью STM-изображения позволяет сопоставлять с атомным латеральным разрешением структуру поверхности и локальную плотность электронных состояний вблизи уровня Ферми. Благодаря этому для систем с различными химическими атомами в кристаллической решетке удаѐтся добиться «химического контраста» между атомами разного сорта, что, в свою очередь, позволяет производить расширенный структурный анализ исследуемых образцов.
M3 - статья в сборнике материалов конференции
SN - 978-5-91326-378-0
VL - 1
SP - 314
EP - 315
BT - Нанофизика и наноэлектроника
PB - Издательство Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского
CY - Нижний-Новгород
T2 - XX Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
Y2 - 14 March 2016 through 18 March 2016
ER -
ID: 7629958