Standard

Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций. / Кальницкий, Вячеслав Степанович (изобретатель); Смирнов, Александр Александрович (изобретатель); Донская, Дарья Михайловна (изобретатель); Киселёва, Валерия Валерьевна (изобретатель); Куликов, Вадим Русланович (изобретатель).

Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Номер патента: 2026612355. янв 27, 2026.

Результаты исследований: Патентование и регистрация прав на ИСсвидетельство о регистрации

Harvard

APA

Кальницкий, В. С., Смирнов, А. А., Донская, Д. М., Киселёва, В. В., & Куликов, В. Р. (2026). Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций. (Номер патента 2026612355). Федеральная служба по интеллектуальной собственности.

Vancouver

Author

Кальницкий, Вячеслав Степанович (изобретатель) ; Смирнов, Александр Александрович (изобретатель) ; Донская, Дарья Михайловна (изобретатель) ; Киселёва, Валерия Валерьевна (изобретатель) ; Куликов, Вадим Русланович (изобретатель). / Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций. Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Номер патента: 2026612355. янв 27, 2026.

BibTeX

@misc{a9becef14117421fb704aee03c5bd73b,
title = "Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций",
abstract = "Разработанное программное обеспечение «Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций» позволяет вычислять приближенное значение коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций, необходимого для вычисления точности угла наклона визирной оси к оси уровня.Исходными данными для расчета являются: данные отсчета реек, расстояния до марок и между марками.",
author = "Кальницкий, {Вячеслав Степанович} and Смирнов, {Александр Александрович} and Донская, {Дарья Михайловна} and Киселёва, {Валерия Валерьевна} and Куликов, {Вадим Русланович}",
year = "2026",
month = jan,
day = "27",
language = "русский",
publisher = "Федеральная служба по интеллектуальной собственности",
address = "Российская Федерация",
type = "Patent",
note = "2026612355",

}

RIS

TY - PAT

T1 - Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций

AU - Кальницкий, Вячеслав Степанович

AU - Смирнов, Александр Александрович

AU - Донская, Дарья Михайловна

AU - Киселёва, Валерия Валерьевна

AU - Куликов, Вадим Русланович

PY - 2026/1/27

Y1 - 2026/1/27

N2 - Разработанное программное обеспечение «Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций» позволяет вычислять приближенное значение коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций, необходимого для вычисления точности угла наклона визирной оси к оси уровня.Исходными данными для расчета являются: данные отсчета реек, расстояния до марок и между марками.

AB - Разработанное программное обеспечение «Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций» позволяет вычислять приближенное значение коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций, необходимого для вычисления точности угла наклона визирной оси к оси уровня.Исходными данными для расчета являются: данные отсчета реек, расстояния до марок и между марками.

M3 - свидетельство о регистрации

M1 - 2026612355

Y2 - 2026/01/18

PB - Федеральная служба по интеллектуальной собственности

ER -

ID: 149338136