Документы

  • 2026612355.eod

    Конечная издательская версия, 831 KB, Документ PDF

  • Вячеслав Степанович Кальницкий (изобретатель)
  • Александр Александрович Смирнов (изобретатель)
  • Дарья Михайловна Донская (изобретатель)
  • Валерия Валерьевна Киселёва (изобретатель)
  • Вадим Русланович Куликов (изобретатель)
Разработанное программное обеспечение «Программа вычисления коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций» позволяет вычислять приближенное значение коэффициента вертикальной рефракции при нивелировании трех деформационных марок с двух станций, необходимого для вычисления точности угла наклона визирной оси к оси уровня.
Исходными данными для расчета являются: данные отсчета реек, расстояния до марок и между марками.
Язык оригиналарусский
Номер патента2026612355
Дата приоритета18/01/26
Дата подачи заявки18/01/26
СостояниеОпубликовано - 27 янв 2026

ID: 149338136