Standard

Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии. / Родин, В.Д.; Аксенов, В.Ю.; Анкудинов, А.В.; Большаков, В.О.; Власов, А.С.; Жарова, Юлия; Илькив, Игорь Владимирович; Левин, Р.В.; Малевская , А.В.; Минтаиров , А.М.

в: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ, Том 59, № 6, 2025, стр. 328-332.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Harvard

Родин, ВД, Аксенов, ВЮ, Анкудинов, АВ, Большаков, ВО, Власов, АС, Жарова, Ю, Илькив, ИВ, Левин, РВ, Малевская , АВ & Минтаиров , АМ 2025, 'Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии', ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ, Том. 59, № 6, стр. 328-332. https://doi.org/10.61011/FTP.2025.06.61955.8008

APA

Родин, В. Д., Аксенов, В. Ю., Анкудинов, А. В., Большаков, В. О., Власов, А. С., Жарова, Ю., Илькив, И. В., Левин, Р. В., Малевская , А. В., & Минтаиров , А. М. (2025). Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии. ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ, 59(6), 328-332. https://doi.org/10.61011/FTP.2025.06.61955.8008

Vancouver

Родин ВД, Аксенов ВЮ, Анкудинов АВ, Большаков ВО, Власов АС, Жарова Ю и пр. Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии. ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 2025;59(6):328-332. https://doi.org/10.61011/FTP.2025.06.61955.8008

Author

Родин, В.Д. ; Аксенов, В.Ю. ; Анкудинов, А.В. ; Большаков, В.О. ; Власов, А.С. ; Жарова, Юлия ; Илькив, Игорь Владимирович ; Левин, Р.В. ; Малевская , А.В. ; Минтаиров , А.М. / Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии. в: ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ. 2025 ; Том 59, № 6. стр. 328-332.

BibTeX

@article{fa25473f70fe4c3db3872992e658bfe8,
title = "Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии",
author = "В.Д. Родин and В.Ю. Аксенов and А.В. Анкудинов and В.О. Большаков and А.С. Власов and Юлия Жарова and Илькив, {Игорь Владимирович} and Р.В. Левин and А.В. Малевская and А.М. Минтаиров",
year = "2025",
doi = "10.61011/FTP.2025.06.61955.8008",
language = "русский",
volume = "59",
pages = "328--332",
journal = "ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ",
issn = "0015-3222",
publisher = "Издательство {"}Наука{"}",
number = "6",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии

AU - Родин, В.Д.

AU - Аксенов, В.Ю.

AU - Анкудинов, А.В.

AU - Большаков, В.О.

AU - Власов, А.С.

AU - Жарова, Юлия

AU - Илькив, Игорь Владимирович

AU - Левин, Р.В.

AU - Малевская , А.В.

AU - Минтаиров , А.М.

PY - 2025

Y1 - 2025

U2 - 10.61011/FTP.2025.06.61955.8008

DO - 10.61011/FTP.2025.06.61955.8008

M3 - статья

VL - 59

SP - 328

EP - 332

JO - ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ

JF - ФИЗИКА И ТЕХНИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ

SN - 0015-3222

IS - 6

ER -

ID: 144586736