Свойства полупроводникового фотоэлемента можно исследовать, используя не монохроматическое излучение, а широкий спектр теплового излучения лампы накаливания. Регулируя ток накала, можно снять зависимость фототока от изменения спектра лампы при нагреве и после несложной математической обработки выявить пороговый характер фотоэффекта и оценить ширину запрещённой зоны. Работа выполняется на самом простом оборудовании и доступна школам с любым уровнем материального обеспечения