Standard

Математические основы методов обработки информации диэлектрической спектроскопии тонких пленок. / Карпов, А.Г.; Клемешев, В.А.; Трофимов, В.В.

в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 10: ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА, ИНФОРМАТИКА, ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ, Том 11, № 4, 2015, стр. 13-26.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Harvard

Карпов, АГ, Клемешев, ВА & Трофимов, ВВ 2015, 'Математические основы методов обработки информации диэлектрической спектроскопии тонких пленок', ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 10: ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА, ИНФОРМАТИКА, ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ, Том. 11, № 4, стр. 13-26. <http://vestnik.unipress.ru/>

APA

Карпов, А. Г., Клемешев, В. А., & Трофимов, В. В. (2015). Математические основы методов обработки информации диэлектрической спектроскопии тонких пленок. ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 10: ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА, ИНФОРМАТИКА, ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ, 11(4), 13-26. http://vestnik.unipress.ru/

Vancouver

Карпов АГ, Клемешев ВА, Трофимов ВВ. Математические основы методов обработки информации диэлектрической спектроскопии тонких пленок. ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 10: ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА, ИНФОРМАТИКА, ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ. 2015;11(4):13-26.

Author

Карпов, А.Г. ; Клемешев, В.А. ; Трофимов, В.В. / Математические основы методов обработки информации диэлектрической спектроскопии тонких пленок. в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 10: ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА, ИНФОРМАТИКА, ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ. 2015 ; Том 11, № 4. стр. 13-26.

BibTeX

@article{111b944580da43178d6969e46964a7d4,
title = "Математические основы методов обработки информации диэлектрической спектроскопии тонких пленок",
abstract = "Комплексная диэлектрическая проницаемость содержит информацию о структуре материала, в том числе о качестве его изготовления. Измерение и анализ диэлектрической проницаемости могут служить методом как научного исследования, так и диагностики материалов. С целью обработки диэлектрометрических измерений в реальном масштабе времени предложен оригинальный метод для вычисления действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости, который может быть реализован в компактном вы- числительном устройстве, например, включенном в систему управления технологическим процессом. Указанный метод основан на применении квадратурных формул для расчета интеграла. Действительная и мнимая части диэлектрической проницаемости вычисляются для значений частоты, расположенных в геометрической прогрессии. Оптические свойства материала непосредственно связаны с диэлектрической проницаемостью. На основании этой связи создана математическая модель для получения показателей поглощения и преломления тонких пленок на прозрачной подложк",
keywords = "математическая модель, диэлектрическая проницаемость, тонкие пленки, оптические свойства, mathematical model, permittivity, thin film, Optical properties",
author = "А.Г. Карпов and В.А. Клемешев and В.В. Трофимов",
year = "2015",
language = "русский",
volume = "11",
pages = "13--26",
journal = " ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА. ИНФОРМАТИКА. ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ",
issn = "1811-9905",
publisher = "Издательство Санкт-Петербургского университета",
number = "4",

}

RIS

TY - JOUR

T1 - Математические основы методов обработки информации диэлектрической спектроскопии тонких пленок

AU - Карпов, А.Г.

AU - Клемешев, В.А.

AU - Трофимов, В.В.

PY - 2015

Y1 - 2015

N2 - Комплексная диэлектрическая проницаемость содержит информацию о структуре материала, в том числе о качестве его изготовления. Измерение и анализ диэлектрической проницаемости могут служить методом как научного исследования, так и диагностики материалов. С целью обработки диэлектрометрических измерений в реальном масштабе времени предложен оригинальный метод для вычисления действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости, который может быть реализован в компактном вы- числительном устройстве, например, включенном в систему управления технологическим процессом. Указанный метод основан на применении квадратурных формул для расчета интеграла. Действительная и мнимая части диэлектрической проницаемости вычисляются для значений частоты, расположенных в геометрической прогрессии. Оптические свойства материала непосредственно связаны с диэлектрической проницаемостью. На основании этой связи создана математическая модель для получения показателей поглощения и преломления тонких пленок на прозрачной подложк

AB - Комплексная диэлектрическая проницаемость содержит информацию о структуре материала, в том числе о качестве его изготовления. Измерение и анализ диэлектрической проницаемости могут служить методом как научного исследования, так и диагностики материалов. С целью обработки диэлектрометрических измерений в реальном масштабе времени предложен оригинальный метод для вычисления действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости, который может быть реализован в компактном вы- числительном устройстве, например, включенном в систему управления технологическим процессом. Указанный метод основан на применении квадратурных формул для расчета интеграла. Действительная и мнимая части диэлектрической проницаемости вычисляются для значений частоты, расположенных в геометрической прогрессии. Оптические свойства материала непосредственно связаны с диэлектрической проницаемостью. На основании этой связи создана математическая модель для получения показателей поглощения и преломления тонких пленок на прозрачной подложк

KW - математическая модель

KW - диэлектрическая проницаемость

KW - тонкие пленки

KW - оптические свойства

KW - mathematical model

KW - permittivity

KW - thin film

KW - Optical properties

UR - http://vestnik.spbu.ru/html15/s10/s10v4/02.pdf

M3 - статья

VL - 11

SP - 13

EP - 26

JO - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА. ИНФОРМАТИКА. ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ

JF - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. ПРИКЛАДНАЯ МАТЕМАТИКА. ИНФОРМАТИКА. ПРОЦЕССЫ УПРАВЛЕНИЯ

SN - 1811-9905

IS - 4

ER -

ID: 5822307