1. 2020
  2. Direct observation of amorphous to crystalline phase transitions in Ge–Sb–Te thin films by grazing incidence X-ray diffraction method

    Kozyukhin, S. A., Nikolaev, I. I., Lazarenko, P. I., Valkovskiy, G. A., Konovalov, O., Kolobov, A. V. & Grigoryeva, N. A., 1 июл 2020, в: Journal of Materials Science: Materials in Electronics. 31, 13, стр. 10196-10206 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

ID: 18596456