121 - 130 из 140Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2012

  2. Electron-excited luminescence of SiO2 layers on silicon

    Baraban, A. P., Dmitriev, V. A., Petrov, Y. V. & Timofeeva, K. A., 2012, в: Physics of the Solid State. 54, 6, стр. 1149-1152

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  3. Growth of whisker nanocrystals in the (1−x)In2O3•xSeO2 system

    Tomaev, V. V. & Petrov, Y. V., 2012, в: Glass Physics and Chemistry. 38, стр. 339-346

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  4. Preparation of Oxidized PbSeO3 Films from PbSe Films

    Tomaev, V. V. & Petrov, Y. V., 2012, в: Glass Physics and Chemistry. 38, стр. 240–244

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  5. Выращивание нитевидных нанокристаллов в системе (1-х)In2O3 xSeO2.

    Томаев, В. В. & Петров, Ю. В., 2012, в: ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА. 38, 3, стр. 276-281

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Люминесценция слоев SiO2 на кремнии, возбуждаемая электронами

    Барабан, А. П., ДмитриевВ.А., U., Петров, Ю. В. & Тимофеева, К. А., 2012, в: ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА. 54, 6, стр. 1080-1083

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Получение окисленных пленок PbSeO3 из пленок PbSe

    Томаев, В. В. & Петров, Ю. В., 2012, в: ФИЗИКА И ХИМИЯ СТЕКЛА. 38, 2, стр. 276-281

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. 2011

  9. Metallization of DNA on silicon surface

    Puchkova, A. O., Sokolov, P., Petrov, U. V. & Kasyanenko, N. A., сен 2011, в: Journal of Nanoparticle Research. 13, 9, стр. 3633-3641 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Secondary electrons energy distribution and energy selective imaging in helium ion microscope. Advancements in Helium Ion Microscopy

    Vyvenko, O. F. & Petrov, Y. V., 2011, в: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 8036, стр. 80360O

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Особенности люминесценции слоев SiO2 на кремнии в УФ-области спектра.

    Барабан, А. П., Бондаренко, А. С., Бондаренко, В. П., Петров, Ю. В. & Тимофеева, К. А., 2011, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 2, стр. 24-29

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. 2010

  13. Scanning Helium Ion Microscope: Distribution of Secondary Electrons and Ion Channeling

    Petrov, Y. V., Vyvenko, O. F. & Bondarenko, A. S., 2010, в: Journal of Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 4, 5, 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

Назад 1...9 10 11 12 13 14 Далее

ID: 200801