21 - 30 из 33Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2014

  2. Vis Sensitization of TiO2 Nano-Films Deposited by ALD onto p-Si(100)

    Titov, V. V., Drozd, V. E., Basov, L. L. & Lisachenko, A. A., 2014, XII International Conference on Nanostructured Materials (NANO 2014) July 13-18, 2014 Moscow, Russia. Издательство Московского университета

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции

  3. X-ray spectroscopic study of influence of initial growth conditions on self-organization of thin oxide layers - устный доклад

    Filatova, E. O., Konyushenko, M. A., Konashuk, A. S., Sokolov, A. A. & Drozd, V. E., 2014.

    Результаты исследований: Материалы конференций › тезисы

  4. Возможности люминесценции при исследовании слоистых диэлектрических слоев на кремнии.

    Гаджала, А. А., Барабан, А. П., Дмитриев, В. А., Дрозд, В. Е. & Прокофьев, В. А., 2014, стр. 166169.

    Результаты исследований: Материалы конференций › тезисы

  5. Мемристор на основе двухслойной структуры с оксидом титана

    Барабан, А. П., Дрозд, В. Е., Конашук, А. С., Селиванов, А. А. & Филатова, Е. О., 2014, стр. 153-156.

    Результаты исследований: Материалы конференций › тезисы

  6. 2013

  7. Study of Al2O3 nanolayers synthesized onto porous SiO2 using X-ray reflection spectroscopy

    Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Schaefers, F. & Filatova, E. O., 2013, в: Thin Solid Films. 534, стр. 363-366

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья

  8. Структуры с управляемым сопротивлением, формируемые методом Молекулярного Наслаивания

    Барабан, А. П., Гаджала, А. А., ДмитриевВ.А., В. А., Дрозд, В. Е., Никифорова, И. О., Петров, Ю. В., Прокофьев, В. А. & Селиванов, А. А., 2013, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 4, стр. 42-47

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. 2012

  10. The influence of porous silica substrate on the properties of alumina films studied by X-ray reflection spectroscopy

    Konashuk, A. S., Sokolov, A. A., Drozd, V. E., Romanov, A. A. & Filatova, E. O., 1 июн 2012, в: Technical Physics Letters. 38, 6, стр. 562-564 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Electronic structure of thin Ta2O5 films on silicon

    Baraban, A. P., Drozd, V. E., Nikiforova, I. O., Dmitriev, V. A., Prokof’ev, V. A., Gadzhala, A. A. & Matveeva, O. P., 2012, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 3, стр. 74-79

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  12. 2009

  13. ALD synthesis of SnSe layers and nanostructures

    Drozd, V. E., Nikiforova, I. O., Bogevolnov, V. B., Yafyasov, A. M., Filatova, E. O. & Papazoglou, D., 21 сен 2009, в: Journal of Physics D: Applied Physics. 42, 12, 125306.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  14. 2007

  15. Электрически активные центры в области границы кремний-диэлектрик с относительно большой диэлектрической.

    Барабан, А. П., Дмитриев, В. А., Дрозд, В. Е. & Никифорова, И. О., 2007, в: ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО УНИВЕРСИТЕТА. СЕРИЯ 4: ФИЗИКА, ХИМИЯ. 4, стр. 57-67.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 Далее

ID: 207626